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芯片测试架
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201921746905.8
申请日
:
2019-10-17
公开(公告)号
:
CN211402438U
公开(公告)日
:
2020-09-01
发明(设计)人
:
田景均
申请人
:
申请人地址
:
518000 广东省深圳市坪山区龙田街道兰竹路以北锦盛四路2号珈伟工业厂区厂房A401-414
IPC主分类号
:
G01R104
IPC分类号
:
代理机构
:
深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542
代理人
:
张小容
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-09-01
授权
授权
共 50 条
[1]
一种闪存芯片测试架
[P].
王玉伟
论文数:
0
引用数:
0
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0
王玉伟
;
何静
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何静
;
王一凡
论文数:
0
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0
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0
王一凡
;
何贵银
论文数:
0
引用数:
0
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0
何贵银
.
中国专利
:CN217360006U
,2022-09-02
[2]
芯片测试固定架
[P].
靳亚超
论文数:
0
引用数:
0
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0
靳亚超
.
中国专利
:CN218470802U
,2023-02-10
[3]
闪存芯片测试架
[P].
陈任佳
论文数:
0
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0
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0
陈任佳
;
陈海
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0
陈海
.
中国专利
:CN204102121U
,2015-01-14
[4]
闪存芯片测试板
[P].
江小俊
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0
机构:
深圳市嘉德半导体技术有限公司
深圳市嘉德半导体技术有限公司
江小俊
;
乐群英
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机构:
深圳市嘉德半导体技术有限公司
深圳市嘉德半导体技术有限公司
乐群英
;
乐群建
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0
机构:
深圳市嘉德半导体技术有限公司
深圳市嘉德半导体技术有限公司
乐群建
.
中国专利
:CN223273025U
,2025-08-26
[5]
芯片测试电路和芯片测试系统
[P].
孙成思
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孙成思
;
孙日欣
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0
孙日欣
;
刘冲
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0
刘冲
.
中国专利
:CN215678636U
,2022-01-28
[6]
一种多功能闪存芯片测试架
[P].
杨德军
论文数:
0
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0
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0
杨德军
.
中国专利
:CN213091809U
,2021-04-30
[7]
一种芯片测试架
[P].
李虎
论文数:
0
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0
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0
李虎
;
徐建飞
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0
徐建飞
.
中国专利
:CN210923889U
,2020-07-03
[8]
集成测试板卡、芯片测试系统及芯片测试方法
[P].
凌献忠
论文数:
0
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0
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0
机构:
苏州华兴源创科技股份有限公司
苏州华兴源创科技股份有限公司
凌献忠
;
田敏
论文数:
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0
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机构:
苏州华兴源创科技股份有限公司
苏州华兴源创科技股份有限公司
田敏
.
中国专利
:CN113219319B
,2024-03-12
[9]
一种芯片测试架
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
张西碧
.
中国专利
:CN221100838U
,2024-06-07
[10]
集成测试板卡、芯片测试系统及芯片测试方法
[P].
凌献忠
论文数:
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引用数:
0
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0
凌献忠
;
田敏
论文数:
0
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0
田敏
.
中国专利
:CN113219319A
,2021-08-06
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