芯片测试架

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201921746905.8
申请日
2019-10-17
公开(公告)号
CN211402438U
公开(公告)日
2020-09-01
发明(设计)人
田景均
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市坪山区龙田街道兰竹路以北锦盛四路2号珈伟工业厂区厂房A401-414
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
代理机构
深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542
代理人
张小容
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[41]
芯片测试机及芯片测试系统 [P]. 
王晓斌 ;
马彦斌 ;
李鑫 ;
王亮 ;
朱旋虎 .
中国专利 :CN220603633U ,2024-03-15
[42]
芯片测试方法及芯片测试设备 [P]. 
原东明 ;
李亮 ;
申华新 .
中国专利 :CN117590201A ,2024-02-23
[43]
一种防错位的芯片测试箱 [P]. 
贾海潮 ;
贾磊 .
中国专利 :CN221485569U ,2024-08-06
[44]
芯片测试板和芯片测试方法 [P]. 
简维廷 ;
徐孝景 ;
程波 ;
张荣哲 ;
邹春梅 .
中国专利 :CN104865412A ,2015-08-26
[45]
芯片测试机改良结构 [P]. 
陈恒懋 ;
陈保卫 .
中国专利 :CN2609179Y ,2004-03-31
[46]
指纹芯片测试装置 [P]. 
鲍军其 ;
刘治震 .
中国专利 :CN207268768U ,2018-04-24
[47]
存储芯片测试组件 [P]. 
唐明星 ;
罗锡彦 ;
罗涛 ;
李伟 .
中国专利 :CN223566311U ,2025-11-18
[48]
光电芯片测试装置 [P]. 
谢翔 ;
吴宏 ;
王丹 .
中国专利 :CN216622581U ,2022-05-27
[49]
防尘式芯片测试插座 [P]. 
张世均 ;
萧世全 ;
刘彬 ;
施鑫煜 ;
肖三丰 .
中国专利 :CN221993515U ,2024-11-12
[50]
芯片封装通用测试座 [P]. 
杜仲 ;
安洪亮 ;
王欣洋 .
中国专利 :CN203396792U ,2014-01-15