学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
芯片测试架
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201921746905.8
申请日
:
2019-10-17
公开(公告)号
:
CN211402438U
公开(公告)日
:
2020-09-01
发明(设计)人
:
田景均
申请人
:
申请人地址
:
518000 广东省深圳市坪山区龙田街道兰竹路以北锦盛四路2号珈伟工业厂区厂房A401-414
IPC主分类号
:
G01R104
IPC分类号
:
代理机构
:
深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542
代理人
:
张小容
法律状态
:
授权
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-09-01
授权
授权
共 50 条
[41]
芯片测试机及芯片测试系统
[P].
王晓斌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
王晓斌
;
马彦斌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
马彦斌
;
李鑫
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
李鑫
;
王亮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
王亮
;
朱旋虎
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
朱旋虎
.
中国专利
:CN220603633U
,2024-03-15
[42]
芯片测试方法及芯片测试设备
[P].
原东明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
重庆市雲扬电子科技有限公司
重庆市雲扬电子科技有限公司
原东明
;
李亮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
重庆市雲扬电子科技有限公司
重庆市雲扬电子科技有限公司
李亮
;
申华新
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
重庆市雲扬电子科技有限公司
重庆市雲扬电子科技有限公司
申华新
.
中国专利
:CN117590201A
,2024-02-23
[43]
一种防错位的芯片测试箱
[P].
贾海潮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州阳萌电子技术有限公司
苏州阳萌电子技术有限公司
贾海潮
;
贾磊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州阳萌电子技术有限公司
苏州阳萌电子技术有限公司
贾磊
.
中国专利
:CN221485569U
,2024-08-06
[44]
芯片测试板和芯片测试方法
[P].
简维廷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
简维廷
;
徐孝景
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
徐孝景
;
程波
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
程波
;
张荣哲
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张荣哲
;
邹春梅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邹春梅
.
中国专利
:CN104865412A
,2015-08-26
[45]
芯片测试机改良结构
[P].
陈恒懋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈恒懋
;
陈保卫
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈保卫
.
中国专利
:CN2609179Y
,2004-03-31
[46]
指纹芯片测试装置
[P].
鲍军其
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
鲍军其
;
刘治震
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘治震
.
中国专利
:CN207268768U
,2018-04-24
[47]
存储芯片测试组件
[P].
唐明星
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市晶封半导体有限公司
深圳市晶封半导体有限公司
唐明星
;
罗锡彦
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市晶封半导体有限公司
深圳市晶封半导体有限公司
罗锡彦
;
罗涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市晶封半导体有限公司
深圳市晶封半导体有限公司
罗涛
;
李伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市晶封半导体有限公司
深圳市晶封半导体有限公司
李伟
.
中国专利
:CN223566311U
,2025-11-18
[48]
光电芯片测试装置
[P].
谢翔
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
谢翔
;
吴宏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴宏
;
王丹
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王丹
.
中国专利
:CN216622581U
,2022-05-27
[49]
防尘式芯片测试插座
[P].
张世均
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
莫扎特半导体(苏州)有限公司
莫扎特半导体(苏州)有限公司
张世均
;
萧世全
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
莫扎特半导体(苏州)有限公司
莫扎特半导体(苏州)有限公司
萧世全
;
刘彬
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
莫扎特半导体(苏州)有限公司
莫扎特半导体(苏州)有限公司
刘彬
;
施鑫煜
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
莫扎特半导体(苏州)有限公司
莫扎特半导体(苏州)有限公司
施鑫煜
;
肖三丰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
莫扎特半导体(苏州)有限公司
莫扎特半导体(苏州)有限公司
肖三丰
.
中国专利
:CN221993515U
,2024-11-12
[50]
芯片封装通用测试座
[P].
杜仲
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杜仲
;
安洪亮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
安洪亮
;
王欣洋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王欣洋
.
中国专利
:CN203396792U
,2014-01-15
←
1
2
3
4
5
→