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芯片测试机及芯片测试系统
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202321460623.8
申请日：
2023-06-08
公开(公告)号：
CN220603633U
公开(公告)日：
2024-03-15
发明(设计)人：
王晓斌
马彦斌
李鑫
王亮
朱旋虎
申请人：
杭州长川科技股份有限公司
申请人地址：
310051 浙江省杭州市滨江区聚才路410号
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
G01R1/073
G01R1/04
代理机构：
杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250
代理人：
吴婷婷
法律状态：
专利申请权、专利权的转移
国省代码：
浙江省
杭州市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-01-17 | 专利申请权、专利权的转移 | 专利权的转移IPC(主分类):G01R 31/28登记生效日:20241231变更事项:专利权人变更前权利人:杭州长川科技股份有限公司变更后权利人:长迈半导体（成都）有限公司变更事项:国家或地区变更前权利人:中国变更后权利人:中国变更事项:地址变更前权利人:310051 浙江省杭州市滨江区聚才路410号变更后权利人:611730 四川省成都市高新区合顺路2号5栋1-5层1、2号（自编号） |
| 2024-03-15 | 授权 | 授权 |