芯片测试控制方法、芯片测试系统和设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411370932.5

申请日：

2024-09-27

公开(公告)号：

CN119335358A

公开(公告)日：

2025-01-21

发明(设计)人：

吴承泽李钦源张亚鑫杨文军

申请人：

杭州长川科技股份有限公司

申请人地址：

310056 浙江省杭州市滨江区聚才路410号

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

H04L69/22 H04L69/24 H04L9/40 G01R1/02

代理机构：

北京思源智汇知识产权代理有限公司 11657

代理人：

王晓多

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

浙江省杭州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-14	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20240927
2025-01-21	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片测试系统和芯片测试系统的控制方法 [P].

田健飞 ;

王远 ;

唐平 .

中国专利 :CN114518524A ,2022-05-20

[2]

芯片测试系统和芯片测试系统的控制方法 [P].

田健飞 ;

王远 ;

唐平 .

中国专利 :CN114518524B ,2025-07-08

[3]

芯片测试方法、芯片测试系统和测试设备 [P].

刘伟 ;

朱仁艳 ;

黄金煌 .

中国专利 :CN119805164A ,2025-04-11

[4]

芯片测试机及芯片测试系统 [P].

王晓斌 ;

马彦斌 ;

李鑫 ;

王亮 ;

朱旋虎 .

中国专利 :CN220603633U ,2024-03-15

[5]

芯片测试组件、芯片测试系统和芯片测试方法 [P].

林楷辉 ;

倪建兴 .

中国专利 :CN112834909A ,2021-05-25

[6]

芯片测试系统和芯片测试方法 [P].

黄鑫 ;

游明琦 .

中国专利 :CN1928576A ,2007-03-14

[7]

芯片测试方法和芯片测试系统 [P].

张伟军 ;

曹凡利 ;

刘华祥 ;

刘琨 .

中国专利 :CN119644121A ,2025-03-18

[8]

芯片测试系统和测试方法 [P].

潘晓辉 ;

王吉健 ;

徐红如 .

中国专利 :CN113160875B ,2024-06-14

[9]

芯片测试系统和测试方法 [P].

潘晓辉 ;

王吉健 ;

徐红如 .

中国专利 :CN113160875A ,2021-07-23

[10]

芯片测试系统以及芯片测试方法 [P].

马茂松 ;

林峰 ;

许小峰 .

中国专利 :CN112578262A ,2021-03-30

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