共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
芯片测试系统和芯片测试系统的控制方法
被引：0
申请号：
CN202210102731.1
申请日：
2022-01-27
公开(公告)号：
CN114518524A
公开(公告)日：
2022-05-20
发明(设计)人：
田健飞
王远
唐平
申请人：
申请人地址：
201702 上海市杨浦区双联路158号1幢11层B区1190室
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201
代理人：
杜月
法律状态：
公开
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-05-20 | 公开 | 公开 |
| 2022-06-07 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20220127 |