存储芯片测试组件

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202422508638.8

申请日：

2024-10-17

公开(公告)号：

CN223566311U

公开(公告)日：

2025-11-18

发明(设计)人：

唐明星罗锡彦罗涛李伟

申请人：

深圳市晶封半导体有限公司

申请人地址：

518115 广东省深圳市龙岗区园山街道保安社区坳二路30号厂房1号楼201

IPC主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

代理机构：

深圳华屹智林知识产权代理事务所(普通合伙) 44785

代理人：

刘伟然

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-18	授权	授权

共 50 条

[1]

存储芯片测试组件及存储芯片测试系统 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘小刚 ;

王万军 .

中国专利 :CN214428332U ,2021-10-19

[2]

一种存储芯片测试夹具 [P].

董育均 ;

朱战志 ;

张德继 ;

龚国栋 ;

刘斌 .

中国专利 :CN223742531U ,2025-12-30

[3]

一种存储芯片测试座 [P].

洪育铠 ;

洪育铃 .

中国专利 :CN221746875U ,2024-09-20

[4]

一种存储芯片测试设备 [P].

张亚伟 ;

李婷婷 .

中国专利 :CN223513658U ,2025-11-04

[5]

一种存储芯片自动高速测试设备 [P].

张亚伟 ;

李婷婷 .

中国专利 :CN223206014U ,2025-08-08

[6]

一种存储芯片简易测试装置 [P].

欧阳木洲 .

中国专利 :CN220731185U ,2024-04-05

[7]

存储芯片测试装置和存储芯片测试系统 [P].

孙文琪 .

中国专利 :CN222337932U ,2025-01-10

[8]

一种拆卸方便的存储芯片测试设备 [P].

王智慧 .

中国专利 :CN222244661U ,2024-12-27

[9]

存储芯片测试方法及存储芯片测试装置、存储介质 [P].

刘众 ;

李文俊 ;

肖浩 ;

黄慧敏 .

中国专利 :CN118298900A ,2024-07-05

[10]

闪存存储芯片测试装置 [P].

王玉伟 ;

何静 ;

王一凡 ;

何贵银 .

中国专利 :CN223155675U ,2025-07-25

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