一种存储芯片测试座

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专利类型
实用新型
申请号
CN202420323791.0
申请日
2024-02-21
公开(公告)号
CN221746875U
公开(公告)日
2024-09-20
发明(设计)人
洪育铠 洪育铃
申请人
深圳市志忠微电子有限公司
申请人地址
518000 广东省深圳市宝安区石岩街道石龙社区工业二路8号同为光电厂区A1栋厂房一层
IPC主分类号
G11C29/56
IPC分类号
代理机构
成都初阳知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 51305
代理人
张文凡
法律状态
授权
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[1]
一种存储芯片测试夹具 [P]. 
董育均 ;
朱战志 ;
张德继 ;
龚国栋 ;
刘斌 .
中国专利 :CN223742531U ,2025-12-30
[2]
存储芯片测试组件 [P]. 
唐明星 ;
罗锡彦 ;
罗涛 ;
李伟 .
中国专利 :CN223566311U ,2025-11-18
[3]
一种存储芯片测试设备 [P]. 
张亚伟 ;
李婷婷 .
中国专利 :CN223513658U ,2025-11-04
[4]
一种存储芯片测试机构 [P]. 
陈伟 .
:CN221174743U ,2024-06-18
[5]
一种存储芯片自动高速测试设备 [P]. 
张亚伟 ;
李婷婷 .
中国专利 :CN223206014U ,2025-08-08
[6]
一种存储芯片简易测试装置 [P]. 
欧阳木洲 .
中国专利 :CN220731185U ,2024-04-05
[7]
一种存储芯片测试座及测试装置 [P]. 
杨密凯 .
中国专利 :CN217544166U ,2022-10-04
[8]
一种拆卸方便的存储芯片测试设备 [P]. 
王智慧 .
中国专利 :CN222244661U ,2024-12-27
[9]
一种拆卸方便的存储芯片测试装置 [P]. 
郑勇 ;
邓保建 .
中国专利 :CN220340282U ,2024-01-12
[10]
一种存储芯片测试夹具 [P]. 
陈宗廷 ;
朱放中 .
中国专利 :CN220399501U ,2024-01-26