一种存储芯片测试夹具

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专利类型
实用新型
申请号
CN202321934211.3
申请日
2023-07-21
公开(公告)号
CN220399501U
公开(公告)日
2024-01-26
发明(设计)人
陈宗廷 朱放中
申请人
深圳市大为创芯微电子科技有限公司
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区科技南路18号深圳湾科技生态园12栋A1406
IPC主分类号
G01R1/04
IPC分类号
代理机构
深圳市中科云策知识产权代理有限公司 44862
代理人
何晓
法律状态
授权
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[1]
一种存储芯片测试夹具 [P]. 
丛维 ;
金生 .
中国专利 :CN212060331U ,2020-12-01
[2]
一种存储芯片测试夹具 [P]. 
董育均 ;
朱战志 ;
张德继 ;
龚国栋 ;
刘斌 .
中国专利 :CN223742531U ,2025-12-30
[3]
一种SSD存储芯片测试夹具 [P]. 
郑勇 ;
邓保建 .
中国专利 :CN220357815U ,2024-01-16
[4]
一种存储芯片测试座 [P]. 
洪育铠 ;
洪育铃 .
中国专利 :CN221746875U ,2024-09-20
[5]
存储芯片测试组件及存储芯片测试系统 [P]. 
孙成思 ;
孙日欣 ;
刘小刚 ;
王万军 .
中国专利 :CN214428332U ,2021-10-19
[6]
一种存储芯片测试机构 [P]. 
陈伟 .
:CN221174743U ,2024-06-18
[7]
一种存储芯片测试装置 [P]. 
谭少鹏 .
中国专利 :CN223167248U ,2025-07-29
[8]
存储芯片测试装置和存储芯片测试系统 [P]. 
孙文琪 .
中国专利 :CN222337932U ,2025-01-10
[9]
存储芯片测试组件 [P]. 
唐明星 ;
罗锡彦 ;
罗涛 ;
李伟 .
中国专利 :CN223566311U ,2025-11-18
[10]
一种存储芯片测试设备 [P]. 
张亚伟 ;
李婷婷 .
中国专利 :CN223513658U ,2025-11-04