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一种存储芯片测试夹具
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202321934211.3
申请日
:
2023-07-21
公开(公告)号
:
CN220399501U
公开(公告)日
:
2024-01-26
发明(设计)人
:
陈宗廷
朱放中
申请人
:
深圳市大为创芯微电子科技有限公司
申请人地址
:
518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区科技南路18号深圳湾科技生态园12栋A1406
IPC主分类号
:
G01R1/04
IPC分类号
:
代理机构
:
深圳市中科云策知识产权代理有限公司 44862
代理人
:
何晓
法律状态
:
授权
国省代码
:
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-01-26
授权
授权
共 50 条
[1]
一种存储芯片测试夹具
[P].
丛维
论文数:
0
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0
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0
丛维
;
金生
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0
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金生
.
中国专利
:CN212060331U
,2020-12-01
[2]
一种存储芯片测试夹具
[P].
董育均
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机构:
湖南酷牛存储科技有限公司
湖南酷牛存储科技有限公司
董育均
;
朱战志
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机构:
湖南酷牛存储科技有限公司
湖南酷牛存储科技有限公司
朱战志
;
张德继
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机构:
湖南酷牛存储科技有限公司
湖南酷牛存储科技有限公司
张德继
;
龚国栋
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机构:
湖南酷牛存储科技有限公司
湖南酷牛存储科技有限公司
龚国栋
;
刘斌
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机构:
湖南酷牛存储科技有限公司
湖南酷牛存储科技有限公司
刘斌
.
中国专利
:CN223742531U
,2025-12-30
[3]
一种SSD存储芯片测试夹具
[P].
郑勇
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机构:
苏州华益微电子有限公司
苏州华益微电子有限公司
郑勇
;
邓保建
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机构:
苏州华益微电子有限公司
苏州华益微电子有限公司
邓保建
.
中国专利
:CN220357815U
,2024-01-16
[4]
一种存储芯片测试座
[P].
洪育铠
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机构:
深圳市志忠微电子有限公司
深圳市志忠微电子有限公司
洪育铠
;
洪育铃
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机构:
深圳市志忠微电子有限公司
深圳市志忠微电子有限公司
洪育铃
.
中国专利
:CN221746875U
,2024-09-20
[5]
存储芯片测试组件及存储芯片测试系统
[P].
孙成思
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孙成思
;
孙日欣
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孙日欣
;
刘小刚
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刘小刚
;
王万军
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0
王万军
.
中国专利
:CN214428332U
,2021-10-19
[6]
一种存储芯片测试机构
[P].
陈伟
论文数:
0
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0
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机构:
深圳市时泰电子有限公司
深圳市时泰电子有限公司
陈伟
.
:CN221174743U
,2024-06-18
[7]
一种存储芯片测试装置
[P].
谭少鹏
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机构:
深圳市德明利技术股份有限公司
深圳市德明利技术股份有限公司
谭少鹏
.
中国专利
:CN223167248U
,2025-07-29
[8]
存储芯片测试装置和存储芯片测试系统
[P].
孙文琪
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机构:
联和存储科技(江苏)有限公司
联和存储科技(江苏)有限公司
孙文琪
.
中国专利
:CN222337932U
,2025-01-10
[9]
存储芯片测试组件
[P].
唐明星
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机构:
深圳市晶封半导体有限公司
深圳市晶封半导体有限公司
唐明星
;
罗锡彦
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机构:
深圳市晶封半导体有限公司
深圳市晶封半导体有限公司
罗锡彦
;
罗涛
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机构:
深圳市晶封半导体有限公司
深圳市晶封半导体有限公司
罗涛
;
李伟
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机构:
深圳市晶封半导体有限公司
深圳市晶封半导体有限公司
李伟
.
中国专利
:CN223566311U
,2025-11-18
[10]
一种存储芯片测试设备
[P].
张亚伟
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机构:
深圳市战峰科技有限公司
深圳市战峰科技有限公司
张亚伟
;
李婷婷
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机构:
深圳市战峰科技有限公司
深圳市战峰科技有限公司
李婷婷
.
中国专利
:CN223513658U
,2025-11-04
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