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存储芯片测试组件及存储芯片测试系统
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202120026738.0
申请日：
2021-01-06
公开(公告)号：
CN214428332U
公开(公告)日：
2021-10-19
发明(设计)人：
孙成思
孙日欣
刘小刚
王万军
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市南山区桃源街道同富裕工业城4号厂房1楼、2楼、4楼、5楼
IPC主分类号：
G11C2956
IPC分类号：
代理机构：
深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙) 44426
代理人：
隆毅
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-10-19 | 授权 | 授权 |
| 2022-06-14 | 专利权人的姓名或者名称、地址的变更 | 专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G11C 29/56 变更事项:专利权人 变更前:深圳佰维存储科技股份有限公司 变更后:深圳佰维存储科技股份有限公司 变更事项:地址 变更前:518000 广东省深圳市南山区桃源街道同富裕工业城4号厂房1楼、2楼、4楼、5楼 变更后:518000 广东省深圳市南山区桃源街道平山社区留仙大道1213号众冠红花岭工业南区2区4、8栋1层-3层及4栋4层 |