存储芯片并行测试系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410388340.X

申请日：

2024-04-01

公开(公告)号：

CN118335174A

公开(公告)日：

2024-07-12

发明(设计)人：

雷黎丽侯越王小强贾文伟

申请人：

北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司

申请人地址：

100176 北京市大兴区北京经济技术开发区泰河三街九号院二区1号楼10层

IPC主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

G11C29/08

代理机构：

北京思创大成知识产权代理有限公司 11614

代理人：

崔维佳

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

安徽省宣城市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-07-30	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/56申请日:20240401
2024-07-12	公开	公开

共 50 条

[1]

存储芯片测试组件及存储芯片测试系统 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘小刚 ;

王万军 .

中国专利 :CN214428332U ,2021-10-19

[2]

存储芯片的测试系统及测试方法 [P].

请求不公布姓名 ;

张嘉祐 .

中国专利 :CN119049533A ,2024-11-29

[3]

存储芯片的测试电路及测试系统 [P].

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 ;

徐永刚 ;

陈玲果 .

中国专利 :CN119068966A ,2024-12-03

[4]

存储芯片的测试电路及测试系统 [P].

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 ;

徐永刚 ;

陈玲果 .

中国专利 :CN223155676U ,2025-07-25

[5]

存储芯片测试方法及存储芯片测试装置、存储介质 [P].

刘众 ;

李文俊 ;

肖浩 ;

黄慧敏 .

中国专利 :CN118298900A ,2024-07-05

[6]

存储芯片测试装置和存储芯片测试系统 [P].

孙文琪 .

中国专利 :CN222337932U ,2025-01-10

[7]

存储芯片整合测试系统 [P].

张洪利 ;

郑程玮 .

中国专利 :CN120727076A ,2025-09-30

[8]

存储芯片测试平台及其测试控制方法 [P].

陈晓森 ;

胡秋勇 ;

赖鼐 .

中国专利 :CN118737256A ,2024-10-01

[9]

非易失性存储芯片测试系统及非易失性存储芯片测试方法 [P].

苏鹏 ;

何海平 ;

曾泉 ;

江京 ;

刘建辉 .

中国专利 :CN115547400A ,2022-12-30

[10]

控制存储芯片的测试系统 [P].

田佳 .

中国专利 :CN207503208U ,2018-06-15

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