存储芯片整合测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511178375.1

申请日：

2025-08-22

公开(公告)号：

CN120727076A

公开(公告)日：

2025-09-30

发明(设计)人：

张洪利郑程玮

申请人：

京隆科技（苏州）有限公司

申请人地址：

215000 江苏省苏州市工业园区方洲路183号

IPC主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

代理机构：

苏州谨和知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32295

代理人：

田媛

法律状态：

公开

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-30	公开	公开
2025-10-21	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/56申请日:20250822

共 50 条

[1]

存储芯片测试组件及存储芯片测试系统 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘小刚 ;

王万军 .

中国专利 :CN214428332U ,2021-10-19

[2]

存储芯片测试装置和存储芯片测试系统 [P].

孙文琪 .

中国专利 :CN222337932U ,2025-01-10

[3]

控制存储芯片的测试系统 [P].

田佳 .

中国专利 :CN207503208U ,2018-06-15

[4]

存储芯片的测试电路及测试系统 [P].

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 ;

徐永刚 ;

陈玲果 .

中国专利 :CN119068966A ,2024-12-03

[5]

存储芯片测试装置和测试系统 [P].

许颖萍 ;

李华星 ;

俞文全 .

中国专利 :CN220543595U ,2024-02-27

[6]

存储芯片的测试电路及测试系统 [P].

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 ;

徐永刚 ;

陈玲果 .

中国专利 :CN223155676U ,2025-07-25

[7]

存储芯片的测试系统及测试方法 [P].

请求不公布姓名 ;

张嘉祐 .

中国专利 :CN119049533A ,2024-11-29

[8]

存储芯片和半导体测试系统 [P].

王山川 ;

蓝帆 ;

曾冉冉 .

中国专利 :CN120236643A ,2025-07-01

[9]

存储芯片并行测试系统及方法 [P].

雷黎丽 ;

侯越 ;

王小强 ;

贾文伟 .

中国专利 :CN118335174A ,2024-07-12

[10]

存储芯片和半导体测试系统 [P].

王山川 ;

蓝帆 ;

曾冉冉 .

中国专利 :CN120236643B ,2025-11-25

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