一种防错位的芯片测试箱

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420185207.X

申请日：

2024-01-25

公开(公告)号：

CN221485569U

公开(公告)日：

2024-08-06

发明(设计)人：

贾海潮贾磊

申请人：

苏州阳萌电子技术有限公司

申请人地址：

215000 江苏省苏州市相城区经济技术开发区澄阳街道澄阳路116号阳澄湖国际科技创业园2号楼413室

IPC主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R1/04

代理机构：

合肥恒牛御创知识产权代理事务所(普通合伙) 34327

代理人：

王于海

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-06	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片测试设备的测试机构 [P].

张治强 ;

杨师 ;

苏允康 .

中国专利 :CN223051462U ,2025-07-01

[2]

一种芯片测试装置 [P].

李明 ;

郭晓旭 ;

樊晓华 ;

边海波 .

中国专利 :CN217360170U ,2022-09-02

[3]

一种闪存芯片高效测试板 [P].

王玉伟 ;

孙丹归 ;

郑双桥 ;

邹小玲 .

中国专利 :CN220439250U ,2024-02-02

[4]

一种芯片测试机的插拔机构及芯片测试机 [P].

张爱林 .

中国专利 :CN223107976U ,2025-07-15

[5]

一种用于芯片测试的匹配网络插件及芯片测试板 [P].

钟雅玲 ;

吴春燕 ;

杨宸 .

中国专利 :CN221446146U ,2024-07-30

[6]

一种用于芯片测试的设备 [P].

黄祥恩 ;

周永燊 ;

孙浩铭 .

中国专利 :CN213122201U ,2021-05-04

[7]

一种芯片测试板 [P].

庄渊胜 ;

蔡江梁 ;

王强 .

中国专利 :CN212845769U ,2021-03-30

[8]

一种用于芯片测试的高低温箱 [P].

李勇 ;

刘湘鹏 ;

刘振华 .

中国专利 :CN217981592U ,2022-12-06

[9]

一种芯片测试用下压测试座 [P].

吴炜奇 .

中国专利 :CN217931942U ,2022-11-29

[10]

一种便于拆卸的芯片测试座 [P].

朴文杰 ;

李雷 ;

李吉 .

中国专利 :CN223679211U ,2025-12-16

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