一种便于拆卸的芯片测试座

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202422994697.0

申请日：

2024-12-05

公开(公告)号：

CN223679211U

公开(公告)日：

2025-12-16

发明(设计)人：

朴文杰李雷李吉

申请人：

苏州奥金斯电子有限公司

申请人地址：

215000 江苏省苏州市工业园区唯华路5号君风生活广场8幢15005室

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R31/28

代理机构：

无锡苏盈专利代理有限公司 32787

代理人：

郑婷婷

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-12-16	授权	授权

共 50 条

[1]

一种便于上下料的芯片测试座 [P].

曾荣 ;

文雨 ;

李翔 .

中国专利 :CN120142900A ,2025-06-13

[2]

芯片测试座 [P].

张勇文 ;

袁小云 .

中国专利 :CN213398670U ,2021-06-08

[3]

一种芯片测试用下压测试座 [P].

吴炜奇 .

中国专利 :CN217931942U ,2022-11-29

[4]

一种多芯片开尔文测试座 [P].

吴志明 .

中国专利 :CN211478546U ,2020-09-11

[5]

一种存储芯片测试座 [P].

洪育铠 ;

洪育铃 .

中国专利 :CN221746875U ,2024-09-20

[6]

一种半导体芯片测试座 [P].

刘磊 ;

侯显能 .

中国专利 :CN220961610U ,2024-05-14

[7]

一种芯片测试座 [P].

杨晓华 ;

石光普 ;

史先映 .

中国专利 :CN221550748U ,2024-08-16

[8]

一种芯片测试座 [P].

宁丽娟 .

中国专利 :CN215005521U ,2021-12-03

[9]

一种芯片测试座 [P].

郭观水 ;

刘志赟 .

中国专利 :CN210015133U ,2020-02-04

[10]

一种芯片测试机测试座 [P].

李维繁星 .

中国专利 :CN218298295U ,2023-01-13

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