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一种芯片测试用下压测试座

被引：0
申请号：
CN202222003784.6
申请日：
2022-08-01
公开(公告)号：
CN217931942U
公开(公告)日：
2022-11-29
发明(设计)人：
吴炜奇
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市龙岗区坂田街道象角塘社区中浩大道6号亿源通工业园D栋601
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
G01R104
代理机构：
成都初阳知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 51305
代理人：
张文凡
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-11-29 授权 授权
共 50 条
[1]
一种芯片量产测试用测试座 [P]. 
吴凌虹 .
中国专利 :CN220277654U ,2024-01-02
[2]
一种用于芯片测试的下压测试座 [P]. 
张力 .
中国专利 :CN223123076U ,2025-07-18
[3]
一种芯片测试用下压结构 [P]. 
刘振 .
中国专利 :CN213275874U ,2021-05-25
[4]
芯片测试座 [P]. 
张勇文 ;
袁小云 .
中国专利 :CN213398670U ,2021-06-08
[5]
芯片测试座 [P]. 
陈凯 .
中国专利 :CN218180924U ,2022-12-30
[6]
一种芯片测试座 [P]. 
杨晓华 ;
石光普 ;
史先映 .
中国专利 :CN221550748U ,2024-08-16
[7]
一种芯片测试座 [P]. 
宁丽娟 .
中国专利 :CN215005521U ,2021-12-03
[8]
一种芯片测试座 [P]. 
郭观水 ;
刘志赟 .
中国专利 :CN210015133U ,2020-02-04
[9]
一种芯片测试用芯片压紧装置 [P]. 
崔军 .
中国专利 :CN223637568U ,2025-12-05
[10]
一种多芯片开尔文测试座 [P]. 
吴志明 .
中国专利 :CN211478546U ,2020-09-11
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