一种多芯片开尔文测试座

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201922124110.X
申请日
2019-12-02
公开(公告)号
CN211478546U
公开(公告)日
2020-09-11
发明(设计)人
吴志明
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市龙岗区坂田街道环城南路亿方工业园7楼
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R104
代理机构
北京科家知识产权代理事务所(普通合伙) 11427
代理人
陈娟
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种芯片开尔文测试座 [P]. 
王国华 ;
李泽林 .
中国专利 :CN217034020U ,2022-07-22
[2]
一种用于大电流芯片的开尔文测试座 [P]. 
金鑫 ;
张向林 .
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[3]
一种芯片用开尔文测试座 [P]. 
费保兴 ;
向迪军 ;
沈峰 .
中国专利 :CN223139653U ,2025-07-22
[4]
一种存储芯片测试座 [P]. 
洪育铠 ;
洪育铃 .
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[5]
一种芯片测试座 [P]. 
宁丽娟 .
中国专利 :CN215005521U ,2021-12-03
[6]
芯片测试座 [P]. 
张勇文 ;
袁小云 .
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[7]
一种QFN多芯片翻盖测试座 [P]. 
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邓保建 .
中国专利 :CN220340283U ,2024-01-12
[8]
一种芯片测试用下压测试座 [P]. 
吴炜奇 .
中国专利 :CN217931942U ,2022-11-29
[9]
一种半导体芯片测试座 [P]. 
刘磊 ;
侯显能 .
中国专利 :CN220961610U ,2024-05-14
[10]
一种芯片测试座 [P]. 
杨晓华 ;
石光普 ;
史先映 .
中国专利 :CN221550748U ,2024-08-16