一种芯片开尔文测试座

被引：0

申请号：

CN202122654480.1

申请日：

2021-10-29

公开(公告)号：

CN217034020U

公开(公告)日：

2022-07-22

发明(设计)人：

王国华李泽林

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市光明新区公明办事处田寮社区第十工业区4栋六楼A

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

代理机构：

深圳中恒科专利代理有限公司 44808

代理人：

解晓阳

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-07-22	授权	授权

共 50 条

[1]

一种多芯片开尔文测试座 [P].

吴志明 .

中国专利 :CN211478546U ,2020-09-11

[2]

一种芯片用开尔文测试座 [P].

费保兴 ;

向迪军 ;

沈峰 .

中国专利 :CN223139653U ,2025-07-22

[3]

一种用于大电流芯片的开尔文测试座 [P].

金鑫 ;

张向林 .

中国专利 :CN218036996U ,2022-12-13

[4]

一种芯片测试座 [P].

吴志明 .

中国专利 :CN211478392U ,2020-09-11

[5]

一种芯片测试座 [P].

宁丽娟 .

中国专利 :CN215005521U ,2021-12-03

[6]

一种芯片测试座 [P].

张彤 .

中国专利 :CN217034016U ,2022-07-22

[7]

一种芯片测试座 [P].

戴云 ;

王坚 .

中国专利 :CN210835155U ,2020-06-23

[8]

芯片测试座 [P].

张勇文 ;

袁小云 .

中国专利 :CN213398670U ,2021-06-08

[9]

一种自动检查测试座开尔文装置 [P].

刘春青 ;

程浪 ;

张怡 ;

蔡择贤 ;

陈勇 .

中国专利 :CN217506045U ,2022-09-27

[10]

开尔文检测电路和芯片测试系统 [P].

李朔男 ;

张杰 ;

金晔 ;

王钢 ;

陶银娇 .

中国专利 :CN211905585U ,2020-11-10

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