一种芯片用开尔文测试座

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202422185930.0

申请日：

2024-09-06

公开(公告)号：

CN223139653U

公开(公告)日：

2025-07-22

发明(设计)人：

费保兴向迪军沈峰

申请人：

承盛航空测试科技（苏州）有限公司

申请人地址：

215400 江苏省苏州市太仓市经济开发区南京东路6号1幢

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R1/067 G01R1/073 G01R31/28

代理机构：

苏州新美苏专利代理事务所(普通合伙) 32804

代理人：

井凯

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-22	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片开尔文测试座 [P].

王国华 ;

李泽林 .

中国专利 :CN217034020U ,2022-07-22

[2]

一种用于大电流芯片的开尔文测试座 [P].

金鑫 ;

张向林 .

中国专利 :CN218036996U ,2022-12-13

[3]

一种多芯片开尔文测试座 [P].

吴志明 .

中国专利 :CN211478546U ,2020-09-11

[4]

一种开尔文测试钳 [P].

王永辉 .

中国专利 :CN203909141U ,2014-10-29

[5]

一种芯片测试座 [P].

吴志明 .

中国专利 :CN211478392U ,2020-09-11

[6]

一种芯片测试座 [P].

张彤 .

中国专利 :CN216117715U ,2022-03-22

[7]

一种芯片测试座 [P].

宁丽娟 .

中国专利 :CN215005521U ,2021-12-03

[8]

一种基于开尔文测试的全新测试插座 [P].

刘凯 ;

周庆飞 ;

杨宗茂 .

中国专利 :CN211478382U ,2020-09-11

[9]

一种开尔文测试夹 [P].

文明明 .

中国专利 :CN218036978U ,2022-12-13

[10]

一种芯片FT测试中的开尔文测试方法 [P].

陈树泳 ;

刘长建 ;

张豪深 ;

陈昱成 .

中国专利 :CN119310331A ,2025-01-14

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