一种芯片FT测试中的开尔文测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411357008.3

申请日：

2024-09-27

公开(公告)号：

CN119310331A

公开(公告)日：

2025-01-14

发明(设计)人：

陈树泳刘长建张豪深陈昱成

申请人：

深圳英集芯科技股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区西丽街道西丽社区打石一路深圳国际创新谷八栋(万科云城三期C区八栋)A座3104房研发用房

IPC主分类号：

G01R19/10

IPC分类号：

G01R31/28

代理机构：

中山市铭洋专利商标事务所(普通合伙) 44286

代理人：

孙思杰

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-07	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 19/10申请日:20240927
2025-01-14	公开	公开

共 50 条

[1]

一种芯片开尔文测试座 [P].

王国华 ;

李泽林 .

中国专利 :CN217034020U ,2022-07-22

[2]

一种芯片用开尔文测试座 [P].

费保兴 ;

向迪军 ;

沈峰 .

中国专利 :CN223139653U ,2025-07-22

[3]

一种多芯片开尔文测试座 [P].

吴志明 .

中国专利 :CN211478546U ,2020-09-11

[4]

一种实现隔离开尔文测试的半导体芯片测试方法 [P].

孟天霜 ;

葛斌 ;

田铮 ;

蒋威 ;

刘文 .

中国专利 :CN115629299A ,2023-01-20

[5]

一种芯片FT测试中检测OP失调校准方法及过流检测OCP校准方法 [P].

陈树泳 ;

郭志强 ;

赵洋 ;

叶俊雄 .

中国专利 :CN119024249A ,2024-11-26

[6]

一种开尔文测试用插座 [P].

郭忠山 .

中国专利 :CN211148731U ,2020-07-31

[7]

一种用于音频芯片的FT测试电路 [P].

葛强 ;

付玲丽 .

中国专利 :CN223193065U ,2025-08-05

[8]

一种用于大电流芯片的开尔文测试座 [P].

金鑫 ;

张向林 .

中国专利 :CN218036996U ,2022-12-13

[9]

一种开尔文测试钳 [P].

王永辉 .

中国专利 :CN203909141U ,2014-10-29

[10]

一种基于开尔文测试的全新测试插座 [P].

刘凯 ;

周庆飞 ;

杨宗茂 .

中国专利 :CN211478382U ,2020-09-11

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