一种基于开尔文测试的全新测试插座

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201921991027.6

申请日：

2019-11-18

公开(公告)号：

CN211478382U

公开(公告)日：

2020-09-11

发明(设计)人：

刘凯周庆飞杨宗茂

申请人：

申请人地址：

215000 江苏省苏州市苏州工业园区唯文路18号

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

代理机构：

合肥方舟知识产权代理事务所(普通合伙) 34158

代理人：

刘跃

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-09-11	授权	授权

共 50 条

[1]

一种开尔文测试用插座 [P].

郭忠山 .

中国专利 :CN211148731U ,2020-07-31

[2]

一种基于开尔文原理的半导体芯片测试插座 [P].

孙鸿斐 ;

田治峰 ;

高凯 ;

王强 .

中国专利 :CN202145214U ,2012-02-15

[3]

一种针对QFN的开尔文测试插座 [P].

殷岚勇 ;

杨菊芬 .

中国专利 :CN112083315A ,2020-12-15

[4]

一种开尔文测试钳 [P].

王永辉 .

中国专利 :CN203909141U ,2014-10-29

[5]

一种用于大电流芯片的开尔文测试座 [P].

金鑫 ;

张向林 .

中国专利 :CN218036996U ,2022-12-13

[6]

一种开尔文测试夹 [P].

文明明 .

中国专利 :CN218036978U ,2022-12-13

[7]

一种芯片用开尔文测试座 [P].

费保兴 ;

向迪军 ;

沈峰 .

中国专利 :CN223139653U ,2025-07-22

[8]

一种多芯片开尔文测试座 [P].

吴志明 .

中国专利 :CN211478546U ,2020-09-11

[9]

一种芯片开尔文测试座 [P].

王国华 ;

李泽林 .

中国专利 :CN217034020U ,2022-07-22

[10]

一种测试插座 [P].

季广华 ;

王坚 .

中国专利 :CN211318541U ,2020-08-21

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