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防尘式芯片测试插座
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202420473346.2
申请日
:
2024-03-12
公开(公告)号
:
CN221993515U
公开(公告)日
:
2024-11-12
发明(设计)人
:
张世均
萧世全
刘彬
施鑫煜
肖三丰
申请人
:
莫扎特半导体(苏州)有限公司
申请人地址
:
215000 江苏省苏州市苏州工业园区汀兰巷192号A2幢101室(该地址不得从事零售)
IPC主分类号
:
G01R1/04
IPC分类号
:
代理机构
:
上海维卓专利代理有限公司 31409
代理人
:
王佳妹
法律状态
:
授权
国省代码
:
江苏省 苏州市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-11-12
授权
授权
共 50 条
[1]
芯片测试插座
[P].
王悦聪
论文数:
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0
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0
王悦聪
;
徐艺凌
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徐艺凌
.
中国专利
:CN216209334U
,2022-04-05
[2]
易拆卸式芯片测试插座
[P].
刘彬
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机构:
莫扎特半导体(苏州)有限公司
莫扎特半导体(苏州)有限公司
刘彬
;
萧世全
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机构:
莫扎特半导体(苏州)有限公司
莫扎特半导体(苏州)有限公司
萧世全
;
张世均
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机构:
莫扎特半导体(苏州)有限公司
莫扎特半导体(苏州)有限公司
张世均
;
施鑫煜
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机构:
莫扎特半导体(苏州)有限公司
莫扎特半导体(苏州)有限公司
施鑫煜
;
肖三丰
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机构:
莫扎特半导体(苏州)有限公司
莫扎特半导体(苏州)有限公司
肖三丰
.
中国专利
:CN221841090U
,2024-10-15
[3]
芯片测试插座S参数测试结构
[P].
许成朋
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机构:
苏州韬盛电子科技有限公司
苏州韬盛电子科技有限公司
许成朋
.
中国专利
:CN222420316U
,2025-01-28
[4]
芯片测试座
[P].
张勇文
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张勇文
;
袁小云
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袁小云
.
中国专利
:CN213398670U
,2021-06-08
[5]
一种芯片测试插座
[P].
蒋卫兵
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蒋卫兵
;
王为令
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王为令
.
中国专利
:CN217385574U
,2022-09-06
[6]
一种芯片测试插座
[P].
冯恒超
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机构:
浙江季丰精密电子有限公司
浙江季丰精密电子有限公司
冯恒超
;
杨小明
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机构:
浙江季丰精密电子有限公司
浙江季丰精密电子有限公司
杨小明
.
中国专利
:CN223426721U
,2025-10-10
[7]
模组芯片测试插座
[P].
周勇华
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机构:
苏州擎星骐骥科技有限公司
苏州擎星骐骥科技有限公司
周勇华
;
王勇
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机构:
苏州擎星骐骥科技有限公司
苏州擎星骐骥科技有限公司
王勇
;
仇中燕
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机构:
苏州擎星骐骥科技有限公司
苏州擎星骐骥科技有限公司
仇中燕
;
戴云
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机构:
苏州擎星骐骥科技有限公司
苏州擎星骐骥科技有限公司
戴云
.
中国专利
:CN221378035U
,2024-07-19
[8]
POP芯片测试插座
[P].
周勇华
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机构:
苏州擎星骐骥科技有限公司
苏州擎星骐骥科技有限公司
周勇华
;
王勇
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机构:
苏州擎星骐骥科技有限公司
苏州擎星骐骥科技有限公司
王勇
;
仇中燕
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机构:
苏州擎星骐骥科技有限公司
苏州擎星骐骥科技有限公司
仇中燕
;
戴云
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机构:
苏州擎星骐骥科技有限公司
苏州擎星骐骥科技有限公司
戴云
.
中国专利
:CN222599699U
,2025-03-11
[9]
电容芯片测试插座
[P].
甘贞龙
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甘贞龙
;
李成君
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李成君
;
侯燕兵
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侯燕兵
.
中国专利
:CN207923937U
,2018-09-28
[10]
闪存芯片测试板
[P].
江小俊
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机构:
深圳市嘉德半导体技术有限公司
深圳市嘉德半导体技术有限公司
江小俊
;
乐群英
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机构:
深圳市嘉德半导体技术有限公司
深圳市嘉德半导体技术有限公司
乐群英
;
乐群建
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机构:
深圳市嘉德半导体技术有限公司
深圳市嘉德半导体技术有限公司
乐群建
.
中国专利
:CN223273025U
,2025-08-26
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