防尘式芯片测试插座

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202420473346.2
申请日
2024-03-12
公开(公告)号
CN221993515U
公开(公告)日
2024-11-12
发明(设计)人
张世均 萧世全 刘彬 施鑫煜 肖三丰
申请人
莫扎特半导体(苏州)有限公司
申请人地址
215000 江苏省苏州市苏州工业园区汀兰巷192号A2幢101室(该地址不得从事零售)
IPC主分类号
G01R1/04
IPC分类号
代理机构
上海维卓专利代理有限公司 31409
代理人
王佳妹
法律状态
授权
国省代码
江苏省 苏州市
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共 50 条
[1]
芯片测试插座 [P]. 
王悦聪 ;
徐艺凌 .
中国专利 :CN216209334U ,2022-04-05
[2]
易拆卸式芯片测试插座 [P]. 
刘彬 ;
萧世全 ;
张世均 ;
施鑫煜 ;
肖三丰 .
中国专利 :CN221841090U ,2024-10-15
[3]
芯片测试插座S参数测试结构 [P]. 
许成朋 .
中国专利 :CN222420316U ,2025-01-28
[4]
芯片测试座 [P]. 
张勇文 ;
袁小云 .
中国专利 :CN213398670U ,2021-06-08
[5]
一种芯片测试插座 [P]. 
蒋卫兵 ;
王为令 .
中国专利 :CN217385574U ,2022-09-06
[6]
一种芯片测试插座 [P]. 
冯恒超 ;
杨小明 .
中国专利 :CN223426721U ,2025-10-10
[7]
模组芯片测试插座 [P]. 
周勇华 ;
王勇 ;
仇中燕 ;
戴云 .
中国专利 :CN221378035U ,2024-07-19
[8]
POP芯片测试插座 [P]. 
周勇华 ;
王勇 ;
仇中燕 ;
戴云 .
中国专利 :CN222599699U ,2025-03-11
[9]
电容芯片测试插座 [P]. 
甘贞龙 ;
李成君 ;
侯燕兵 .
中国专利 :CN207923937U ,2018-09-28
[10]
闪存芯片测试板 [P]. 
江小俊 ;
乐群英 ;
乐群建 .
中国专利 :CN223273025U ,2025-08-26