易拆卸式芯片测试插座

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202420352683.6
申请日
2024-02-26
公开(公告)号
CN221841090U
公开(公告)日
2024-10-15
发明(设计)人
刘彬 萧世全 张世均 施鑫煜 肖三丰
申请人
莫扎特半导体(苏州)有限公司
申请人地址
215000 江苏省苏州市苏州工业园区汀兰巷192号A2幢101室(该地址不得从事零售)
IPC主分类号
G01R1/04
IPC分类号
G01R31/28
代理机构
上海维卓专利代理有限公司 31409
代理人
吴彦
法律状态
授权
国省代码
江苏省 苏州市
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共 50 条
[1]
防尘式芯片测试插座 [P]. 
张世均 ;
萧世全 ;
刘彬 ;
施鑫煜 ;
肖三丰 .
中国专利 :CN221993515U ,2024-11-12
[2]
芯片测试插座 [P]. 
王悦聪 ;
徐艺凌 .
中国专利 :CN216209334U ,2022-04-05
[3]
芯片测试插座S参数测试结构 [P]. 
许成朋 .
中国专利 :CN222420316U ,2025-01-28
[4]
一种芯片测试插座 [P]. 
蒋卫兵 ;
王为令 .
中国专利 :CN217385574U ,2022-09-06
[5]
电容芯片测试插座 [P]. 
甘贞龙 ;
李成君 ;
侯燕兵 .
中国专利 :CN207923937U ,2018-09-28
[6]
一种便于拆卸的芯片测试座 [P]. 
朴文杰 ;
李雷 ;
李吉 .
中国专利 :CN223679211U ,2025-12-16
[7]
半导体芯片测试插座 [P]. 
蒋卫兵 .
中国专利 :CN202182906U ,2012-04-04
[8]
测试插座开合机构及芯片测试装置 [P]. 
殷岚勇 ;
韦国 ;
徐亮 .
中国专利 :CN118281668A ,2024-07-02
[9]
测试插座开合机构及芯片测试装置 [P]. 
殷岚勇 ;
韦国 ;
徐亮 .
中国专利 :CN118281668B ,2024-12-20
[10]
一种用于芯片半导体测试用芯片插座 [P]. 
龙艺 .
中国专利 :CN119492893A ,2025-02-21