一种芯片测试插座

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202422694885.1

申请日：

2024-11-06

公开(公告)号：

CN223426721U

公开(公告)日：

2025-10-10

发明(设计)人：

冯恒超杨小明

申请人：

浙江季丰精密电子有限公司

申请人地址：

314199 浙江省嘉兴市嘉善县惠民街道鑫达路8号A2幢3楼

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

代理机构：

北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463

代理人：

徐彤

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-10	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片测试插座 [P].

蒋卫兵 ;

王为令 .

中国专利 :CN217385574U ,2022-09-06

[2]

芯片测试插座 [P].

王悦聪 ;

徐艺凌 .

中国专利 :CN216209334U ,2022-04-05

[3]

一种芯片测试插座 [P].

胡佳伟 ;

梁建 ;

罗雄科 ;

何亚军 .

中国专利 :CN117214484B ,2024-02-02

[4]

一种芯片测试插座 [P].

侯燕兵 ;

徐海林 ;

金永斌 ;

王强 ;

贺涛 ;

丁宁 ;

朱伟 .

中国专利 :CN117890632A ,2024-04-16

[5]

一种用于芯片半导体测试用芯片插座 [P].

龙艺 .

中国专利 :CN119492893A ,2025-02-21

[6]

防尘式芯片测试插座 [P].

张世均 ;

萧世全 ;

刘彬 ;

施鑫煜 ;

肖三丰 .

中国专利 :CN221993515U ,2024-11-12

[7]

一种芯片测试方法及芯片测试系统 [P].

卢苗 .

中国专利 :CN119805160B ,2025-09-19

[8]

一种芯片测试机及芯片测试设备 [P].

孙成扬 .

中国专利 :CN120971936A ,2025-11-18

[9]

一种芯片测试方法及芯片测试系统 [P].

卢苗 .

中国专利 :CN119805160A ,2025-04-11

[10]

芯片测试插座S参数测试结构 [P].

许成朋 .

中国专利 :CN222420316U ,2025-01-28

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