一种芯片测试插座

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410031451.5
申请日
2024-01-09
公开(公告)号
CN117890632A
公开(公告)日
2024-04-16
发明(设计)人
侯燕兵 徐海林 金永斌 王强 贺涛 丁宁 朱伟
申请人
苏州法特迪科技股份有限公司
申请人地址
215000 江苏省苏州市工业园区兴浦路200号5#101、102、201、202
IPC主分类号
G01R1/04
IPC分类号
G01R31/28
代理机构
苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257
代理人
唐灵
法律状态
发明专利申请公布后的驳回
国省代码
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共 50 条
[1]
一种芯片测试插座 [P]. 
蒋卫兵 ;
王为令 .
中国专利 :CN217385574U ,2022-09-06
[2]
一种芯片测试插座 [P]. 
冯恒超 ;
杨小明 .
中国专利 :CN223426721U ,2025-10-10
[3]
芯片测试插座 [P]. 
王悦聪 ;
徐艺凌 .
中国专利 :CN216209334U ,2022-04-05
[4]
一种基于芯片测试的插座 [P]. 
梁建 ;
罗雄科 .
中国专利 :CN209460285U ,2019-10-01
[5]
一种基于芯片测试的插座 [P]. 
梁建 ;
罗雄科 .
中国专利 :CN109116061A ,2019-01-01
[6]
一种芯片反装测试插座 [P]. 
贾扬帆 ;
侯文 ;
王传刚 ;
王强 ;
金永斌 ;
贺涛 ;
丁宁 ;
朱伟 .
中国专利 :CN217156580U ,2022-08-09
[7]
一种芯片测试插座 [P]. 
胡佳伟 ;
梁建 ;
罗雄科 ;
何亚军 .
中国专利 :CN117214484B ,2024-02-02
[8]
一种芯片测试插座 [P]. 
宫亮 ;
宫明 .
中国专利 :CN212674969U ,2021-03-09
[9]
芯片测试插座 [P]. 
黄瀚民 ;
曾照晖 ;
苏伟志 .
中国专利 :CN117405929A ,2024-01-16
[10]
芯片测试插座 [P]. 
涂曼 .
中国专利 :CN301173486S ,2010-04-14