一种基于芯片测试的插座

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201821475257.2

申请日：

2018-09-10

公开(公告)号：

CN209460285U

公开(公告)日：

2019-10-01

发明(设计)人：

梁建罗雄科

申请人：

申请人地址：

200233 上海市徐汇区田州路159号15单元1302室

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

G01R3128

代理机构：

上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251

代理人：

郭桂峰

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-10-01	授权	授权

共 50 条

[1]

一种基于芯片测试的插座 [P].

梁建 ;

罗雄科 .

中国专利 :CN109116061A ,2019-01-01

[2]

一种芯片测试插座的测试盖 [P].

谭笑婷 ;

黄鑫 .

中国专利 :CN216082835U ,2022-03-18

[3]

一种芯片测试插座 [P].

胡佳伟 ;

梁建 ;

罗雄科 ;

何亚军 .

中国专利 :CN117214484B ,2024-02-02

[4]

一种芯片测试插座 [P].

蒋卫兵 ;

王为令 .

中国专利 :CN217385574U ,2022-09-06

[5]

一种芯片测试插座 [P].

宫亮 ;

宫明 .

中国专利 :CN212674969U ,2021-03-09

[6]

一种芯片测试插座 [P].

冯恒超 ;

杨小明 .

中国专利 :CN223426721U ,2025-10-10

[7]

一种芯片测试插座 [P].

侯燕兵 ;

徐海林 ;

金永斌 ;

王强 ;

贺涛 ;

丁宁 ;

朱伟 .

中国专利 :CN117890632A ,2024-04-16

[8]

一种用于芯片测试的插座 [P].

钱春华 .

中国专利 :CN215599313U ,2022-01-21

[9]

一种用于芯片的测试插座 [P].

施元军 ;

刘凯 .

中国专利 :CN206161789U ,2017-05-10

[10]

芯片测试插座 [P].

王悦聪 ;

徐艺凌 .

中国专利 :CN216209334U ,2022-04-05

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