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一种用于芯片测试的插座
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202122145100.1
申请日
:
2021-09-06
公开(公告)号
:
CN215599313U
公开(公告)日
:
2022-01-21
发明(设计)人
:
钱春华
申请人
:
申请人地址
:
215000 江苏省苏州市苏州吴中经济开发区田上江路103号1212室
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
G01R104
代理机构
:
无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260
代理人
:
顾品荧
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-01-21
授权
授权
共 50 条
[1]
一种用于芯片的测试插座
[P].
施元军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
施元军
;
刘凯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘凯
.
中国专利
:CN206161789U
,2017-05-10
[2]
一种自动导正的芯片测试插座
[P].
王雯雯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王雯雯
.
中国专利
:CN213068949U
,2021-04-27
[3]
一种用于芯片的测试插座
[P].
谢森华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
谢森华
.
中国专利
:CN214585854U
,2021-11-02
[4]
一种芯片测试插座的测试盖
[P].
谭笑婷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
谭笑婷
;
黄鑫
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄鑫
.
中国专利
:CN216082835U
,2022-03-18
[5]
一种芯片测试插座
[P].
宫亮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
宫亮
;
宫明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
宫明
.
中国专利
:CN212674969U
,2021-03-09
[6]
一种基于芯片测试的插座
[P].
梁建
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
梁建
;
罗雄科
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
罗雄科
.
中国专利
:CN209460285U
,2019-10-01
[7]
适用于高频测试的芯片测试插座
[P].
宋成龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
宋成龙
;
邱信辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邱信辉
.
中国专利
:CN214310786U
,2021-09-28
[8]
适用于高频测试的芯片测试插座
[P].
高宗英
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
高宗英
;
周勇华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
周勇华
;
高凯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
高凯
;
殷岚勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
殷岚勇
.
中国专利
:CN204302321U
,2015-04-29
[9]
芯片测试插座
[P].
王悦聪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王悦聪
;
徐艺凌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
徐艺凌
.
中国专利
:CN216209334U
,2022-04-05
[10]
一种用于BGA芯片测试的插座
[P].
周勇华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州擎星骐骥科技有限公司
苏州擎星骐骥科技有限公司
周勇华
;
王勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州擎星骐骥科技有限公司
苏州擎星骐骥科技有限公司
王勇
;
仇中燕
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州擎星骐骥科技有限公司
苏州擎星骐骥科技有限公司
仇中燕
;
戴云
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州擎星骐骥科技有限公司
苏州擎星骐骥科技有限公司
戴云
.
中国专利
:CN220872519U
,2024-04-30
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