适用于高频测试的芯片测试插座

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201420745125.2

申请日：

2014-12-02

公开(公告)号：

CN204302321U

公开(公告)日：

2015-04-29

发明(设计)人：

高宗英周勇华高凯殷岚勇

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路498号9幢20214室

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

G01R1073

代理机构：

上海唯源专利代理有限公司 31229

代理人：

蔡沅

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-04-29	授权	授权

共 50 条

[1]

适用于高频测试的芯片测试插座 [P].

宋成龙 ;

邱信辉 .

中国专利 :CN214310786U ,2021-09-28

[2]

适用于芯片高频测试的探针装置 [P].

施元军 ;

刘凯 .

中国专利 :CN207440149U ,2018-06-01

[3]

适用于芯片测试系统的测试平台 [P].

余占清 ;

刘佳鹏 ;

曾嵘 ;

陈政宇 ;

任春频 ;

赵彪 .

中国专利 :CN212965280U ,2021-04-13

[4]

一种适用于芯片开发测试的手动测试插座 [P].

薛宗敏 ;

高向东 .

中国专利 :CN222838095U ,2025-05-06

[5]

适用于芯片测试系统的测试平台 [P].

余占清 ;

刘佳鹏 ;

曾嵘 ;

陈政宇 ;

任春频 ;

赵彪 .

中国专利 :CN111736058B ,2020-10-02

[6]

适用于地磁传感器芯片的测试插座 [P].

王永 ;

周勇华 ;

施元军 ;

高凯 .

中国专利 :CN205484864U ,2016-08-17

[7]

一种适用于多种芯片的测试插座 [P].

朱天成 ;

王刚 .

中国专利 :CN202305583U ,2012-07-04

[8]

一种用于芯片的测试插座 [P].

施元军 ;

刘凯 .

中国专利 :CN206161789U ,2017-05-10

[9]

芯片测试插座 [P].

王悦聪 ;

徐艺凌 .

中国专利 :CN216209334U ,2022-04-05

[10]

一种适用于芯片测试的电路 [P].

李晓骏 .

中国专利 :CN203800923U ,2014-08-27

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