适用于芯片测试系统的测试平台

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010557687.4

申请日：

2020-06-18

公开(公告)号：

CN111736058B

公开(公告)日：

2020-10-02

发明(设计)人：

余占清刘佳鹏曾嵘陈政宇任春频赵彪

申请人：

申请人地址：

100084 北京市海淀区清华园1号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

北京知联天下知识产权代理事务所(普通合伙) 11594

代理人：

张陆军

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-10-02	公开	公开
2020-10-30	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20200618
2021-08-10	授权	授权

共 50 条

[1]

适用于芯片测试系统的测试平台 [P].

余占清 ;

刘佳鹏 ;

曾嵘 ;

陈政宇 ;

任春频 ;

赵彪 .

中国专利 :CN212965280U ,2021-04-13

[2]

芯片测试电路和芯片测试系统 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘冲 .

中国专利 :CN215678636U ,2022-01-28

[3]

芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统 [P].

历广绪 ;

张俊 .

中国专利 :CN115078968A ,2022-09-20

[4]

芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统 [P].

历广绪 ;

张俊 .

中国专利 :CN115078968B ,2024-06-25

[5]

一种适用于教学的芯片测试平台 [P].

郑江云 ;

金伟 ;

詹文法 ;

杨晨露 ;

戚盛源 ;

蔡雪原 ;

张庆平 .

中国专利 :CN118840922A ,2024-10-25

[6]

用于测试芯片的方法、测试平台和测试系统 [P].

刘金涛 ;

曹岚健 .

中国专利 :CN110023770A ,2019-07-16

[7]

适用于高频测试的芯片测试插座 [P].

宋成龙 ;

邱信辉 .

中国专利 :CN214310786U ,2021-09-28

[8]

适用于高频测试的芯片测试插座 [P].

高宗英 ;

周勇华 ;

高凯 ;

殷岚勇 .

中国专利 :CN204302321U ,2015-04-29

[9]

测试芯片及其芯片测试系统 [P].

罗仁鸿 .

中国专利 :CN102788947A ,2012-11-21

[10]

芯片测试组件、芯片测试系统和芯片测试方法 [P].

林楷辉 ;

倪建兴 .

中国专利 :CN112834909A ,2021-05-25

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