测试芯片及其芯片测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201110127085.6

申请日：

2011-05-17

公开(公告)号：

CN102788947A

公开(公告)日：

2012-11-21

发明(设计)人：

罗仁鸿

申请人：

申请人地址：

中国台湾新竹科学工业园区新竹县创新一路13号2楼

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205

代理人：

臧建明

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-01-16	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101378927544 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2011101270856 申请日:20110517
2015-03-11	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101712027819 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2011101270856 申请公布日:20121121
2012-11-21	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片测试组件、芯片测试系统和芯片测试方法 [P].

林楷辉 ;

倪建兴 .

中国专利 :CN112834909A ,2021-05-25

[2]

芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统 [P].

历广绪 ;

张俊 .

中国专利 :CN115078968A ,2022-09-20

[3]

芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统 [P].

历广绪 ;

张俊 .

中国专利 :CN115078968B ,2024-06-25

[4]

芯片测试板及芯片测试系统 [P].

王华 ;

刘远华 ;

王锦 ;

季海英 ;

邓维维 ;

郝丹丹 .

中国专利 :CN104316731A ,2015-01-28

[5]

芯片测试方法及芯片测试系统 [P].

周祥 ;

唐绪伟 ;

钟峰 ;

袁俊 ;

张亦锋 ;

郑挺 ;

郑朝生 ;

袁刚 ;

张会战 ;

辜诗涛 ;

魏强 ;

容承昌 ;

卢旭坤 .

中国专利 :CN111346845B ,2020-06-30

[6]

芯片测试系统和芯片测试方法 [P].

黄鑫 ;

游明琦 .

中国专利 :CN1928576A ,2007-03-14

[7]

芯片测试系统及芯片测试方法 [P].

张衍 .

中国专利 :CN118655444A ,2024-09-17

[8]

芯片测试系统以及芯片测试方法 [P].

马茂松 ;

林峰 ;

许小峰 .

中国专利 :CN112578262A ,2021-03-30

[9]

芯片测试系统、装置、芯片及其测试方法 [P].

胡先德 ;

章恒嘉 .

中国专利 :CN118962380A ,2024-11-15

[10]

芯片测试系统 [P].

王茂海 .

中国专利 :CN202815170U ,2013-03-20

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