芯片测试方法及芯片测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010193909.9

申请日：

2020-03-18

公开(公告)号：

CN111346845B

公开(公告)日：

2020-06-30

发明(设计)人：

周祥唐绪伟钟峰袁俊张亦锋郑挺郑朝生袁刚张会战辜诗涛魏强容承昌卢旭坤

申请人：

申请人地址：

523000 广东省东莞市万江街道莫屋新丰东二路2号

IPC主分类号：

B07C5344

IPC分类号：

B07C536

代理机构：

广州三环专利商标代理有限公司 44202

代理人：

张艳美;王志

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-07-24	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):B07C 5/344 申请日:20200318
2020-06-30	公开	公开
2022-06-24	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试系统及芯片测试方法 [P].

张大成 ;

施瑾 ;

刘远华 ;

顾春华 ;

郝丹丹 .

中国专利 :CN103576079A ,2014-02-12

[2]

芯片测试系统及芯片测试方法 [P].

张衍 .

中国专利 :CN118655444A ,2024-09-17

[3]

芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统 [P].

历广绪 ;

张俊 .

中国专利 :CN115078968A ,2022-09-20

[4]

芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统 [P].

历广绪 ;

张俊 .

中国专利 :CN115078968B ,2024-06-25

[5]

芯片测试系统、芯片测试方法、芯片及存储介质 [P].

黄松 ;

范兵 ;

黄观冰 ;

杜林恒 ;

王传寿 ;

刘超 .

中国专利 :CN120560911A ,2025-08-29

[6]

芯片测试组件、芯片测试系统和芯片测试方法 [P].

林楷辉 ;

倪建兴 .

中国专利 :CN112834909A ,2021-05-25

[7]

芯片测试方法及芯片测试系统 [P].

孙文琪 ;

高伟 .

中国专利 :CN118519843B ,2024-12-06

[8]

芯片测试方法及芯片测试系统 [P].

孙文琪 ;

高伟 .

中国专利 :CN118519843A ,2024-08-20

[9]

芯片测试方法及芯片测试系统 [P].

邢清瑞 ;

高伟 .

中国专利 :CN118467276B ,2024-12-10

[10]

芯片测试方法及芯片测试系统 [P].

邢清瑞 ;

高伟 .

中国专利 :CN118467276A ,2024-08-09

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