芯片测试方法及芯片测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410931576.3

申请日：

2024-07-12

公开(公告)号：

CN118467276B

公开(公告)日：

2024-12-10

发明(设计)人：

邢清瑞高伟

申请人：

联和存储科技（江苏）有限公司

申请人地址：

214000 江苏省无锡市无锡经济开发区新园路富力中心C5-401-03

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

G11C29/44 H04B17/00

代理机构：

深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙) 44426

代理人：

隆毅

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-10	授权	授权
2024-08-09	公开	公开
2024-08-27	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20240712

共 50 条

[1]

芯片测试方法及芯片测试系统 [P].

邢清瑞 ;

高伟 .

中国专利 :CN118467276A ,2024-08-09

[2]

芯片测试方法及芯片测试系统 [P].

孙文琪 ;

高伟 .

中国专利 :CN118519843B ,2024-12-06

[3]

芯片测试方法及芯片测试系统 [P].

孙文琪 ;

高伟 .

中国专利 :CN118519843A ,2024-08-20

[4]

芯片测试系统及芯片测试方法 [P].

张大成 ;

施瑾 ;

刘远华 ;

顾春华 ;

郝丹丹 .

中国专利 :CN103576079A ,2014-02-12

[5]

芯片测试系统及芯片测试方法 [P].

张衍 .

中国专利 :CN118655444A ,2024-09-17

[6]

芯片测试方法及芯片测试系统 [P].

周祥 ;

唐绪伟 ;

钟峰 ;

袁俊 ;

张亦锋 ;

郑挺 ;

郑朝生 ;

袁刚 ;

张会战 ;

辜诗涛 ;

魏强 ;

容承昌 ;

卢旭坤 .

中国专利 :CN111346845B ,2020-06-30

[7]

芯片测试装置、芯片测试系统及芯片测试方法 [P].

谢媛媛 ;

张智 ;

沈忠丽 .

中国专利 :CN120559431A ,2025-08-29

[8]

芯片测试系统、芯片测试方法及设备 [P].

姜虎明 ;

吴泽民 .

中国专利 :CN119299656A ,2025-01-10

[9]

芯片测试系统、芯片测试方法及设备 [P].

姜虎明 ;

吴泽民 .

中国专利 :CN119342202A ,2025-01-21

[10]

收音芯片测试方法及芯片测试系统 [P].

曾先俊 ;

尹轶 .

中国专利 :CN115549820A ,2022-12-30

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