一种用于芯片的测试插座

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201620763713.8

申请日：

2016-07-20

公开(公告)号：

CN206161789U

公开(公告)日：

2017-05-10

发明(设计)人：

施元军刘凯

申请人：

申请人地址：

215000 江苏省苏州市工业园区唯文路18号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R104 G01R1073

代理机构：

北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357

代理人：

刘洪勋

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-05-10	授权	授权

共 50 条

[1]

一种用于芯片的测试插座及其测试电路 [P].

施元军 ;

刘凯 .

中国专利 :CN106199385A ,2016-12-07

[2]

一种用于芯片的测试插座 [P].

谢森华 .

中国专利 :CN214585854U ,2021-11-02

[3]

一种用于芯片测试的插座 [P].

钱春华 .

中国专利 :CN215599313U ,2022-01-21

[4]

一种半导体芯片测试插座 [P].

杨晓勇 ;

周家春 .

中国专利 :CN201955353U ,2011-08-31

[5]

一种芯片测试插座 [P].

蒋卫兵 ;

王为令 .

中国专利 :CN217385574U ,2022-09-06

[6]

适用于高频测试的芯片测试插座 [P].

宋成龙 ;

邱信辉 .

中国专利 :CN214310786U ,2021-09-28

[7]

适用于高频测试的芯片测试插座 [P].

高宗英 ;

周勇华 ;

高凯 ;

殷岚勇 .

中国专利 :CN204302321U ,2015-04-29

[8]

一种用于BGA芯片测试的插座 [P].

周勇华 ;

王勇 ;

仇中燕 ;

戴云 .

中国专利 :CN220872519U ,2024-04-30

[9]

一种指纹芯片测试插座 [P].

孙文涛 .

中国专利 :CN206270369U ,2017-06-20

[10]

一种自动导正的芯片测试插座 [P].

王雯雯 .

中国专利 :CN213068949U ,2021-04-27

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