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一种半导体芯片测试插座
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201020602961.7
申请日
:
2010-11-12
公开(公告)号
:
CN201955353U
公开(公告)日
:
2011-08-31
发明(设计)人
:
杨晓勇
周家春
申请人
:
申请人地址
:
215021 江苏省苏州市苏州工业园区苏虹中路255号
IPC主分类号
:
G01R104
IPC分类号
:
代理机构
:
苏州市新苏专利事务所有限公司 32221
代理人
:
孙莘隆
法律状态
:
专利权的终止
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-12-01
专利权的终止
专利权有效期届满 IPC(主分类):G01R 1/04 申请日:20101112 授权公告日:20110831
2011-08-31
授权
授权
共 50 条
[1]
半导体芯片测试插座
[P].
蒋卫兵
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
蒋卫兵
.
中国专利
:CN202182906U
,2012-04-04
[2]
半导体芯片测试插座
[P].
高宗英
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
高宗英
.
中国专利
:CN301714122S
,2011-11-02
[3]
半导体芯片测试插座
[P].
游晨
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
游晨
.
中国专利
:CN216209321U
,2022-04-05
[4]
一种半导体芯片测试插座
[P].
邵亚伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邵亚伟
.
中国专利
:CN214899067U
,2021-11-26
[5]
一种基于开尔文原理的半导体芯片测试插座
[P].
孙鸿斐
论文数:
0
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0
孙鸿斐
;
田治峰
论文数:
0
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0
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田治峰
;
高凯
论文数:
0
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0
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0
高凯
;
王强
论文数:
0
引用数:
0
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0
王强
.
中国专利
:CN202145214U
,2012-02-15
[6]
一种半导体芯片的测试插座
[P].
王斌
论文数:
0
引用数:
0
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0
王斌
.
中国专利
:CN217787285U
,2022-11-11
[7]
半导体芯片测试插座
[P].
池谷清和
论文数:
0
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0
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0
池谷清和
;
姜基源
论文数:
0
引用数:
0
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0
姜基源
.
中国专利
:CN107750337A
,2018-03-02
[8]
一种用于芯片半导体测试用芯片插座
[P].
龙艺
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
北京恒通瑞兴科技有限公司
北京恒通瑞兴科技有限公司
龙艺
.
中国专利
:CN119492893A
,2025-02-21
[9]
一种用于半导体芯片的测试插座
[P].
郭峻岭
论文数:
0
引用数:
0
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郭峻岭
.
中国专利
:CN217879331U
,2022-11-22
[10]
一种用于双面引脚阵列半导体芯片的测试插座
[P].
陈金荣
论文数:
0
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陈金荣
;
郭愿珍
论文数:
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郭愿珍
;
刘德先
论文数:
0
引用数:
0
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刘德先
.
中国专利
:CN204925180U
,2015-12-30
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