一种半导体芯片测试插座

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201020602961.7
申请日
2010-11-12
公开(公告)号
CN201955353U
公开(公告)日
2011-08-31
发明(设计)人
杨晓勇 周家春
申请人
申请人地址
215021 江苏省苏州市苏州工业园区苏虹中路255号
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
代理机构
苏州市新苏专利事务所有限公司 32221
代理人
孙莘隆
法律状态
专利权的终止
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
半导体芯片测试插座 [P]. 
蒋卫兵 .
中国专利 :CN202182906U ,2012-04-04
[2]
半导体芯片测试插座 [P]. 
高宗英 .
中国专利 :CN301714122S ,2011-11-02
[3]
半导体芯片测试插座 [P]. 
游晨 .
中国专利 :CN216209321U ,2022-04-05
[4]
一种半导体芯片测试插座 [P]. 
邵亚伟 .
中国专利 :CN214899067U ,2021-11-26
[5]
一种基于开尔文原理的半导体芯片测试插座 [P]. 
孙鸿斐 ;
田治峰 ;
高凯 ;
王强 .
中国专利 :CN202145214U ,2012-02-15
[6]
一种半导体芯片的测试插座 [P]. 
王斌 .
中国专利 :CN217787285U ,2022-11-11
[7]
半导体芯片测试插座 [P]. 
池谷清和 ;
姜基源 .
中国专利 :CN107750337A ,2018-03-02
[8]
一种用于芯片半导体测试用芯片插座 [P]. 
龙艺 .
中国专利 :CN119492893A ,2025-02-21
[9]
一种用于半导体芯片的测试插座 [P]. 
郭峻岭 .
中国专利 :CN217879331U ,2022-11-22
[10]
一种用于双面引脚阵列半导体芯片的测试插座 [P]. 
陈金荣 ;
郭愿珍 ;
刘德先 .
中国专利 :CN204925180U ,2015-12-30