一种用于半导体芯片的测试插座

被引：0

申请号：

CN202221792934.X

申请日：

2022-07-13

公开(公告)号：

CN217879331U

公开(公告)日：

2022-11-22

发明(设计)人：

郭峻岭

申请人：

申请人地址：

300203 天津市滨海新区中关村科技园大唐总部基地西区4号楼4-4

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

G01R3128

代理机构：

天津万信开元专利代理事务所(普通合伙) 12262

代理人：

杨鹏

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-22	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体芯片测试插座 [P].

蒋卫兵 .

中国专利 :CN202182906U ,2012-04-04

[2]

半导体芯片测试插座 [P].

游晨 .

中国专利 :CN216209321U ,2022-04-05

[3]

一种用于芯片半导体测试用芯片插座 [P].

龙艺 .

中国专利 :CN119492893A ,2025-02-21

[4]

一种半导体芯片的测试插座 [P].

王斌 .

中国专利 :CN217787285U ,2022-11-11

[5]

一种用于双面引脚阵列半导体芯片的测试插座 [P].

陈金荣 ;

郭愿珍 ;

刘德先 .

中国专利 :CN204925180U ,2015-12-30

[6]

一种半导体芯片测试插座 [P].

杨晓勇 ;

周家春 .

中国专利 :CN201955353U ,2011-08-31

[7]

一种半导体芯片测试插座 [P].

邵亚伟 .

中国专利 :CN214899067U ,2021-11-26

[8]

可自动定位芯片的半导体芯片测试插座 [P].

孙鸿斐 ;

贺涛 .

中国专利 :CN204177828U ,2015-02-25

[9]

一种测试半导体芯片的芯片插座 [P].

李北印 ;

沈红星 ;

陈泳宇 ;

王超群 .

中国专利 :CN118348394A ,2024-07-16

[10]

一种测试半导体芯片的芯片插座 [P].

李北印 ;

沈红星 ;

陈泳宇 ;

王超群 .

中国专利 :CN118348394B ,2024-11-01

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