一种测试半导体芯片的芯片插座

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410534075.1
申请日
2024-04-30
公开(公告)号
CN118348394B
公开(公告)日
2024-11-01
发明(设计)人
李北印 沈红星 陈泳宇 王超群
申请人
弘润半导体(苏州)有限公司
申请人地址
215500 江苏省苏州市常熟市碧溪街道通港路58号10幢
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
G01R31/26 G01R1/04
代理机构
苏州君磊知识产权代理事务所(普通合伙) 32695
代理人
黄新民
法律状态
实质审查的生效
国省代码
河北省 衡水市
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共 50 条
[1]
一种测试半导体芯片的芯片插座 [P]. 
李北印 ;
沈红星 ;
陈泳宇 ;
王超群 .
中国专利 :CN118348394A ,2024-07-16
[2]
半导体芯片测试插座 [P]. 
蒋卫兵 .
中国专利 :CN202182906U ,2012-04-04
[3]
半导体芯片测试插座 [P]. 
池谷清和 ;
姜基源 .
中国专利 :CN107750337A ,2018-03-02
[4]
半导体芯片测试插座 [P]. 
高宗英 .
中国专利 :CN301714122S ,2011-11-02
[5]
半导体芯片测试插座 [P]. 
游晨 .
中国专利 :CN216209321U ,2022-04-05
[6]
一种用于芯片半导体测试用芯片插座 [P]. 
龙艺 .
中国专利 :CN119492893A ,2025-02-21
[7]
一种用于半导体芯片的测试插座 [P]. 
郭峻岭 .
中国专利 :CN217879331U ,2022-11-22
[8]
一种半导体芯片测试插座 [P]. 
杨晓勇 ;
周家春 .
中国专利 :CN201955353U ,2011-08-31
[9]
一种半导体芯片测试插座 [P]. 
邵亚伟 .
中国专利 :CN214899067U ,2021-11-26
[10]
一种半导体芯片的测试插座 [P]. 
王斌 .
中国专利 :CN217787285U ,2022-11-11