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半导体芯片测试插座

被引：0
申请号：
CN202122605850.2
申请日：
2021-10-28
公开(公告)号：
CN216209321U
公开(公告)日：
2022-04-05
发明(设计)人：
游晨
申请人：
申请人地址：
214400 江苏省无锡市江阴市人民西路532号
IPC主分类号：
G01R104
IPC分类号：
G01R3126
代理机构：
北京市领专知识产权代理有限公司 11590
代理人：
陈烯贤
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-04-05 授权 授权
共 50 条
[1]
半导体芯片测试插座 [P]. 
蒋卫兵 .
中国专利 :CN202182906U ,2012-04-04
[2]
半导体芯片测试插座 [P]. 
池谷清和 ;
姜基源 .
中国专利 :CN107750337A ,2018-03-02
[3]
半导体芯片测试插座 [P]. 
高宗英 .
中国专利 :CN301714122S ,2011-11-02
[4]
一种半导体芯片测试插座 [P]. 
杨晓勇 ;
周家春 .
中国专利 :CN201955353U ,2011-08-31
[5]
一种半导体芯片测试插座 [P]. 
邵亚伟 .
中国专利 :CN214899067U ,2021-11-26
[6]
可自动定位芯片的半导体芯片测试插座 [P]. 
孙鸿斐 ;
贺涛 .
中国专利 :CN204177828U ,2015-02-25
[7]
一种半导体芯片的测试插座 [P]. 
王斌 .
中国专利 :CN217787285U ,2022-11-11
[8]
层叠半导体测试插座 [P]. 
巴克特 ;
杨晓勇 ;
周家春 ;
尹卡雷 .
中国专利 :CN201489025U ,2010-05-26
[9]
半导体测试插座 [P]. 
张龙 ;
卓春丽 ;
陈金荣 .
中国专利 :CN214898333U ,2021-11-26
[10]
一种用于半导体芯片的测试插座 [P]. 
郭峻岭 .
中国专利 :CN217879331U ,2022-11-22
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