学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审

层叠半导体测试插座

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN200920186422.7
申请日：
2009-07-15
公开(公告)号：
CN201489025U
公开(公告)日：
2010-05-26
发明(设计)人：
巴克特 杨晓勇 周家春 尹卡雷
申请人：
申请人地址：
215021 江苏省苏州市苏州工业园区苏虹中路255号
IPC主分类号：
G01R104
IPC分类号：
代理机构：
苏州市新苏专利事务所有限公司 32221
代理人：
孙莘隆
法律状态：
授权
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2010-05-26 授权 授权
2019-08-09 专利权的终止 专利权有效期届满 IPC(主分类):G01R 1/04 申请日:20090715 授权公告日:20100526
共 50 条
[1]
半导体芯片测试插座 [P]. 
游晨 .
中国专利 :CN216209321U ,2022-04-05
[2]
半导体芯片测试插座 [P]. 
蒋卫兵 .
中国专利 :CN202182906U ,2012-04-04
[3]
半导体测试插座 [P]. 
张龙 ;
卓春丽 ;
陈金荣 .
中国专利 :CN214898333U ,2021-11-26
[4]
一种用于双面引脚阵列半导体芯片的测试插座 [P]. 
陈金荣 ;
郭愿珍 ;
刘德先 .
中国专利 :CN204925180U ,2015-12-30
[5]
半导体芯片测试插座 [P]. 
池谷清和 ;
姜基源 .
中国专利 :CN107750337A ,2018-03-02
[6]
半导体芯片测试插座 [P]. 
高宗英 .
中国专利 :CN301714122S ,2011-11-02
[7]
半导体测试插座 [P]. 
张龙 ;
卓春丽 ;
陈金荣 .
中国专利 :CN114724968A ,2022-07-08
[8]
半导体测试插座 [P]. 
张龙 ;
卓春丽 ;
陈金荣 .
中国专利 :CN114724968B ,2025-06-17
[9]
可自动定位芯片的半导体芯片测试插座 [P]. 
孙鸿斐 ;
贺涛 .
中国专利 :CN204177828U ,2015-02-25
[10]
一种用于半导体芯片的测试插座 [P]. 
郭峻岭 .
中国专利 :CN217879331U ,2022-11-22
12345