一种用于芯片的测试插座及其测试电路

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610571356.X

申请日：

2016-07-20

公开(公告)号：

CN106199385A

公开(公告)日：

2016-12-07

发明(设计)人：

施元军刘凯

申请人：

申请人地址：

215000 江苏省苏州市工业园区唯文路18号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R104 G01R1073

代理机构：

北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357

代理人：

刘洪勋

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-12-07	公开	公开
2017-01-04	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101695158217 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:201610571356X 申请日:20160720

共 50 条

[1]

一种用于芯片的测试插座 [P].

施元军 ;

刘凯 .

中国专利 :CN206161789U ,2017-05-10

[2]

一种芯片测试插座 [P].

蒋卫兵 ;

王为令 .

中国专利 :CN217385574U ,2022-09-06

[3]

一种用于芯片的测试插座 [P].

谢森华 .

中国专利 :CN214585854U ,2021-11-02

[4]

用于芯片的测试插座 [P].

陈裕欣 ;

高合助 .

中国专利 :CN108693458B ,2018-10-23

[5]

适用于高频测试的芯片测试插座 [P].

宋成龙 ;

邱信辉 .

中国专利 :CN214310786U ,2021-09-28

[6]

适用于高频测试的芯片测试插座 [P].

高宗英 ;

周勇华 ;

高凯 ;

殷岚勇 .

中国专利 :CN204302321U ,2015-04-29

[7]

一种芯片测试插座及其测试方法 [P].

卢鑫 ;

吴俊超 ;

金永斌 ;

王强 ;

贺涛 ;

丁宁 ;

朱伟 .

中国专利 :CN120928159A ,2025-11-11

[8]

一种芯片测试插座 [P].

胡佳伟 ;

梁建 ;

罗雄科 ;

何亚军 .

中国专利 :CN117214484B ,2024-02-02

[9]

一种用于芯片测试的插座 [P].

钱春华 .

中国专利 :CN215599313U ,2022-01-21

[10]

一种半导体芯片测试插座 [P].

杨晓勇 ;

周家春 .

中国专利 :CN201955353U ,2011-08-31

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