学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
一种芯片测试插座
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202021190780.8
申请日
:
2020-06-23
公开(公告)号
:
CN212674969U
公开(公告)日
:
2021-03-09
发明(设计)人
:
宫亮
宫明
申请人
:
申请人地址
:
215600 江苏省苏州市张家港市杨舍镇华昌路沙洲湖科创园内
IPC主分类号
:
G01R104
IPC分类号
:
G01R3128
代理机构
:
苏州金项专利代理事务所(普通合伙) 32456
代理人
:
金星
法律状态
:
授权
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-03-09
授权
授权
共 50 条
[1]
芯片测试插座
[P].
王悦聪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王悦聪
;
徐艺凌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
徐艺凌
.
中国专利
:CN216209334U
,2022-04-05
[2]
一种MEMS芯片测试插座
[P].
邹波
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邹波
;
王苏江
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王苏江
.
中国专利
:CN209878943U
,2019-12-31
[3]
一种芯片测试插座的测试盖
[P].
谭笑婷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
谭笑婷
;
黄鑫
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄鑫
.
中国专利
:CN216082835U
,2022-03-18
[4]
一种芯片测试插座及其测试方法
[P].
卢鑫
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州法特迪科技股份有限公司
苏州法特迪科技股份有限公司
卢鑫
;
吴俊超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州法特迪科技股份有限公司
苏州法特迪科技股份有限公司
吴俊超
;
金永斌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州法特迪科技股份有限公司
苏州法特迪科技股份有限公司
金永斌
;
王强
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州法特迪科技股份有限公司
苏州法特迪科技股份有限公司
王强
;
贺涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州法特迪科技股份有限公司
苏州法特迪科技股份有限公司
贺涛
;
丁宁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州法特迪科技股份有限公司
苏州法特迪科技股份有限公司
丁宁
;
朱伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州法特迪科技股份有限公司
苏州法特迪科技股份有限公司
朱伟
.
中国专利
:CN120928159A
,2025-11-11
[5]
芯片测试插座弹力补偿机构
[P].
朱小刚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朱小刚
.
中国专利
:CN202794229U
,2013-03-13
[6]
模组芯片测试插座
[P].
周勇华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州擎星骐骥科技有限公司
苏州擎星骐骥科技有限公司
周勇华
;
王勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州擎星骐骥科技有限公司
苏州擎星骐骥科技有限公司
王勇
;
仇中燕
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州擎星骐骥科技有限公司
苏州擎星骐骥科技有限公司
仇中燕
;
戴云
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州擎星骐骥科技有限公司
苏州擎星骐骥科技有限公司
戴云
.
中国专利
:CN221378035U
,2024-07-19
[7]
POP芯片测试插座
[P].
周勇华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州擎星骐骥科技有限公司
苏州擎星骐骥科技有限公司
周勇华
;
王勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州擎星骐骥科技有限公司
苏州擎星骐骥科技有限公司
王勇
;
仇中燕
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州擎星骐骥科技有限公司
苏州擎星骐骥科技有限公司
仇中燕
;
戴云
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州擎星骐骥科技有限公司
苏州擎星骐骥科技有限公司
戴云
.
中国专利
:CN222599699U
,2025-03-11
[8]
一种多功能芯片测试插座
[P].
丛维
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
丛维
;
金生
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
金生
.
中国专利
:CN212459784U
,2021-02-02
[9]
一种基于芯片测试的插座
[P].
梁建
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
梁建
;
罗雄科
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
罗雄科
.
中国专利
:CN209460285U
,2019-10-01
[10]
一种半导体芯片测试插座
[P].
杨晓勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨晓勇
;
周家春
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
周家春
.
中国专利
:CN201955353U
,2011-08-31
←
1
2
3
4
5
→