一种多功能芯片测试插座

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202021031108.4
申请日
2020-06-08
公开(公告)号
CN212459784U
公开(公告)日
2021-02-02
发明(设计)人
丛维 金生
申请人
申请人地址
210000 江苏省南京市江北新区星火路17号创智大厦B座10C-A131
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
代理机构
上海骁象知识产权代理有限公司 31315
代理人
邱丹
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
多功能芯片插座 [P]. 
贾晓娟 .
中国专利 :CN2047058U ,1989-11-01
[2]
一种多芯片功能测试用插座 [P]. 
龚健 .
中国专利 :CN223711644U ,2025-12-23
[3]
一种半导体芯片测试插座 [P]. 
杨晓勇 ;
周家春 .
中国专利 :CN201955353U ,2011-08-31
[4]
一种电抗可控芯片测试插座 [P]. 
陶西昂 ;
潘杰姆 ;
周家春 ;
杨晓勇 .
中国专利 :CN201662582U ,2010-12-01
[5]
一种用于芯片的测试插座 [P]. 
施元军 ;
刘凯 .
中国专利 :CN206161789U ,2017-05-10
[6]
一种芯片测试插座 [P]. 
蒋卫兵 ;
王为令 .
中国专利 :CN217385574U ,2022-09-06
[7]
一种芯片测试插座 [P]. 
宫亮 ;
宫明 .
中国专利 :CN212674969U ,2021-03-09
[8]
一种多功能芯片测试设备 [P]. 
杨烨尧 ;
王思露 ;
魏巍 ;
武棣 ;
谢金存 .
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[9]
多功能芯片测试笔 [P]. 
李运金 ;
王毅 ;
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中国专利 :CN204302332U ,2015-04-29
[10]
一种弹出式芯片测试插座 [P]. 
何俊 ;
李涛 ;
王华伟 .
中国专利 :CN218412795U ,2023-01-31