一种多功能芯片测试设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510453333.8

申请日：

2025-04-11

公开(公告)号：

CN120294367A

公开(公告)日：

2025-07-11

发明(设计)人：

杨烨尧王思露魏巍武棣谢金存

申请人：

苏州昱丰原智能科技有限公司

申请人地址：

215011 江苏省苏州市苏州高新区枫桥镇御前路5号

IPC主分类号：

G01R1/02

IPC分类号：

G01R1/04 G01R31/28 G01N21/01 G01N21/84 G01N21/88

代理机构：

江苏予捷专利代理有限公司 32781

代理人：

钱世沛

法律状态：

公开

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-11	公开	公开
2025-07-29	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 1/02申请日:20250411

共 50 条

[1]

一种基于多功能集成的芯片综合测试系统 [P].

杨烨尧 ;

王思露 ;

魏巍 ;

武棣 ;

谢金存 .

中国专利 :CN120294368A ,2025-07-11

[2]

一种芯片测试设备 [P].

魏秀强 ;

彭琪 ;

黄思琪 ;

宋克江 ;

闫大鹏 .

中国专利 :CN111965519A ,2020-11-20

[3]

一种芯片测试设备 [P].

黄思琪 ;

宋克江 ;

闫大鹏 .

中国专利 :CN111965520A ,2020-11-20

[4]

芯片测试设备 [P].

段雄斌 ;

张利利 ;

庞华贵 ;

何选民 .

中国专利 :CN114859214A ,2022-08-05

[5]

芯片测试方法及芯片测试设备 [P].

原东明 ;

李亮 ;

申华新 .

中国专利 :CN117590201A ,2024-02-23

[6]

一种光接收芯片测试设备 [P].

黄祥恩 ;

匡嘉乐 ;

韦文龙 ;

唐佛雨 ;

李乐宜 ;

廖云峰 .

中国专利 :CN220709223U ,2024-04-02

[7]

一种芯片测试机及芯片测试设备 [P].

孙成扬 .

中国专利 :CN120971936A ,2025-11-18

[8]

一种芯片测试设备 [P].

周建松 .

中国专利 :CN119535157A ,2025-02-28

[9]

一种芯片测试设备 [P].

徐银森 ;

林佳 ;

罗双武 ;

黄海霞 .

中国专利 :CN223333757U ,2025-09-12

[10]

一种芯片测试设备 [P].

孙征 .

中国专利 :CN115532631A ,2022-12-30

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