芯片测试插座弹力补偿机构

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201220192171.5

申请日：

2012-05-02

公开(公告)号：

CN202794229U

公开(公告)日：

2013-03-13

发明(设计)人：

朱小刚

申请人：

申请人地址：

215000 江苏省苏州市吴中区胥口镇燕河路广益工业坊

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-06-22	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101667741723 IPC(主分类):G01R 1/04 专利号:ZL2012201921715 申请日:20120502 授权公告日:20130313 终止日期:20150502
2013-03-13	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试插座 [P].

王悦聪 ;

徐艺凌 .

中国专利 :CN216209334U ,2022-04-05

[2]

芯片模组测试插座浮板机构 [P].

朱小刚 .

中国专利 :CN202614797U ,2012-12-19

[3]

一种芯片测试插座 [P].

宫亮 ;

宫明 .

中国专利 :CN212674969U ,2021-03-09

[4]

模组芯片测试插座 [P].

周勇华 ;

王勇 ;

仇中燕 ;

戴云 .

中国专利 :CN221378035U ,2024-07-19

[5]

POP芯片测试插座 [P].

周勇华 ;

王勇 ;

仇中燕 ;

戴云 .

中国专利 :CN222599699U ,2025-03-11

[6]

芯片模组测试插座压板旋转机构 [P].

朱小刚 .

中国专利 :CN202794228U ,2013-03-13

[7]

芯片测试插座上盖吹气系统 [P].

朱小刚 .

中国专利 :CN202614796U ,2012-12-19

[8]

芯片测试插座 [P].

黄瀚民 ;

曾照晖 ;

苏伟志 .

中国专利 :CN117405929A ,2024-01-16

[9]

芯片测试插座 [P].

涂曼 .

中国专利 :CN301173486S ,2010-04-14

[10]

半导体芯片测试插座 [P].

蒋卫兵 .

中国专利 :CN202182906U ,2012-04-04

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