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一种闪存芯片测试方法和系统
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201711445182.3
申请日：
2017-12-27
公开(公告)号：
CN108564984B
公开(公告)日：
2018-09-21
发明(设计)人：
蔡德智
王永成
韩飞
申请人：
申请人地址：
100083 北京市海淀区学院路30号科大天工大厦A座12层
IPC主分类号：
G11C2956
IPC分类号：
代理机构：
北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319
代理人：
莎日娜
法律状态：
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-09-16 | 专利权人的姓名或者名称、地址的变更 | 专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G11C 29/56 变更事项:专利权人 变更前:北京兆易创新科技股份有限公司 变更后:兆易创新科技集团股份有限公司 变更事项:地址 变更前:100083 北京市海淀区学院路30号科大天工大厦A座12层 变更后:100094 北京市海淀区丰豪东路9号院8号楼1至5层101 变更事项:专利权人 变更前:合肥格易集成电路有限公司 变更后:合肥格易集成电路有限公司 |
| 2020-07-10 | 授权 | 授权 |
| 2018-10-23 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 29/56 申请日:20171227 |
| 2018-09-21 | 公开 | 公开 |