一种芯片测试系统和测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411935304.7

申请日：

2024-12-24

公开(公告)号：

CN119827948A

公开(公告)日：

2025-04-15

发明(设计)人：

关达宦承永李宪全陈灏孔凡猛舒柏钦

申请人：

深圳市国微电子有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区高新南一道015号国微研发大厦六层A

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414

代理人：

袁哲

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

山东省青岛市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-02	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20241224
2025-04-15	公开	公开

共 50 条

[1]

一种芯片测试系统以及测试方法 [P].

倪黄忠 ;

俞文全 ;

李华星 .

中国专利 :CN115440293B ,2025-11-28

[2]

一种芯片测试系统以及测试方法 [P].

倪黄忠 ;

俞文全 ;

李华星 .

中国专利 :CN115440293A ,2022-12-06

[3]

电源芯片测试系统和用于测试电源芯片的方法 [P].

刘洋 ;

郑春花 ;

姜玉才 .

中国专利 :CN117517930A ,2024-02-06

[4]

集成测试板卡、芯片测试系统及芯片测试方法 [P].

凌献忠 ;

田敏 .

中国专利 :CN113219319B ,2024-03-12

[5]

集成测试板卡、芯片测试系统及芯片测试方法 [P].

凌献忠 ;

田敏 .

中国专利 :CN113219319A ,2021-08-06

[6]

一种芯片测试方法及芯片测试系统 [P].

卢苗 .

中国专利 :CN119805160B ,2025-09-19

[7]

一种芯片测试方法及芯片测试系统 [P].

卢苗 .

中国专利 :CN119805160A ,2025-04-11

[8]

一种芯片测试系统和测试方法 [P].

关锴 .

中国专利 :CN117031256B ,2024-03-01

[9]

芯片测试系统和测试方法 [P].

潘晓辉 ;

王吉健 ;

徐红如 .

中国专利 :CN113160875B ,2024-06-14

[10]

芯片测试系统和测试方法 [P].

潘晓辉 ;

王吉健 ;

徐红如 .

中国专利 :CN113160875A ,2021-07-23

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