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一种芯片测试系统以及测试方法
被引：0
申请号：
CN202210954206.2
申请日：
2022-08-10
公开(公告)号：
CN115440293A
公开(公告)日：
2022-12-06
发明(设计)人：
倪黄忠
俞文全
李华星
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市宝安区新桥街道象山社区新发东路7号一层二层、三层;5号一层、二层、三层
IPC主分类号：
G11C2956
IPC分类号：
代理机构：
深圳盛德大业知识产权代理事务所(普通合伙) 44333
代理人：
左光明
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-12-06 | 公开 | 公开 |
| 2022-12-23 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 29/56 申请日:20220810 |