一种串口闪存芯片测试系统和测试方法

被引：0

申请号：

CN202210184223.2

申请日：

2022-02-24

公开(公告)号：

CN114610549A

公开(公告)日：

2022-06-10

发明(设计)人：

陈耀闯董亚明

申请人：

申请人地址：

215000 江苏省苏州市工业园区青丘巷8号

IPC主分类号：

G06F1122

IPC分类号：

G06F1342

代理机构：

北京正理专利代理有限公司 11257

代理人：

张雪梅

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-06-28	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/22 申请日:20220224
2022-06-10	公开	公开

共 50 条

[1]

一种闪存芯片测试方法和系统 [P].

蔡德智 ;

王永成 ;

韩飞 .

中国专利 :CN108564984B ,2018-09-21

[2]

一种闪存芯片的测试方法和闪存芯片 [P].

苏志强 ;

舒清明 .

中国专利 :CN102592679A ,2012-07-18

[3]

一种芯片测试系统和测试方法 [P].

关达 ;

宦承永 ;

李宪全 ;

陈灏 ;

孔凡猛 ;

舒柏钦 .

中国专利 :CN119827948A ,2025-04-15

[4]

芯片测试系统和测试方法 [P].

潘晓辉 ;

王吉健 ;

徐红如 .

中国专利 :CN113160875B ,2024-06-14

[5]

芯片测试系统和测试方法 [P].

潘晓辉 ;

王吉健 ;

徐红如 .

中国专利 :CN113160875A ,2021-07-23

[6]

闪存芯片测试方法 [P].

谢中华 ;

韩文娟 ;

孙嘉轩 .

中国专利 :CN120089179A ,2025-06-03

[7]

闪存芯片测试方法 [P].

谢中华 ;

韩文娟 ;

孙嘉轩 .

中国专利 :CN120089179B ,2025-12-05

[8]

闪存芯片测试方法 [P].

谢中华 ;

韩文娟 ;

孙嘉轩 .

中国专利 :CN120089180B ,2025-11-14

[9]

闪存芯片测试方法 [P].

谢中华 ;

韩文娟 ;

孙嘉轩 .

中国专利 :CN120089180A ,2025-06-03

[10]

一种不同封装闪存芯片在线测试和分类方法及测试系统 [P].

刘政林 ;

王志强 ;

李四林 .

中国专利 :CN108682442B ,2018-10-19

← 1 2 3 4 5 →