一种闪存芯片高效测试板

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202321891696.2
申请日
2023-07-19
公开(公告)号
CN220305991U
公开(公告)日
2024-01-05
发明(设计)人
邵训练 钟林
申请人
合肥市华宇半导体有限公司
申请人地址
230000 安徽省合肥市高新区玉兰大道767号机电产业园一期4幢标准厂房301.302室
IPC主分类号
G11C29/56
IPC分类号
代理机构
合肥方舟知识产权代理事务所(普通合伙) 34158
代理人
刘跃
法律状态
授权
国省代码
江苏省 常州市
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
一种闪存芯片高效测试板 [P]. 
王玉伟 ;
孙丹归 ;
郑双桥 ;
邹小玲 .
中国专利 :CN220439250U ,2024-02-02
[2]
一种闪存芯片高效测试板 [P]. 
詹焕 ;
张剑勇 .
中国专利 :CN218240313U ,2023-01-06
[3]
闪存芯片测试板 [P]. 
江小俊 ;
乐群英 ;
乐群建 .
中国专利 :CN223273025U ,2025-08-26
[4]
一种闪存芯片测试架 [P]. 
王玉伟 ;
何静 ;
王一凡 ;
何贵银 .
中国专利 :CN217360006U ,2022-09-02
[5]
闪存芯片测试架 [P]. 
陈任佳 ;
陈海 .
中国专利 :CN204102121U ,2015-01-14
[6]
一种PCIe Gen4高速闪存芯片测试板 [P]. 
谭少鹏 ;
王欣 ;
唐承超 ;
彭坚 .
中国专利 :CN222939666U ,2025-06-03
[7]
一种闪存芯片的测试方法和闪存芯片 [P]. 
苏志强 ;
舒清明 .
中国专利 :CN102592679A ,2012-07-18
[8]
一种多功能闪存芯片测试架 [P]. 
杨德军 .
中国专利 :CN213091809U ,2021-04-30
[9]
一种闪存芯片测试机 [P]. 
王玉伟 ;
邹小玲 ;
孙丹归 ;
郑双桥 .
中国专利 :CN220691719U ,2024-03-29
[10]
一种闪存芯片测试架 [P]. 
向正友 ;
卢宏伟 .
中国专利 :CN205302958U ,2016-06-08