一种芯片测试设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202422574490.8

申请日：

2024-10-23

公开(公告)号：

CN223347009U

公开(公告)日：

2025-09-16

发明(设计)人：

请求不公布姓名夏嵩请求不公布姓名请求不公布姓名

申请人：

深圳宏芯宇电子股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市福田区梅林街道梅都社区中康路136号深圳新一代产业园2栋2501、2401、1501

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/04

代理机构：

深圳市嘉勤知识产权代理有限公司 44651

代理人：

刘自丽

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-16	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片测试设备 [P].

谢登煌 .

中国专利 :CN119805172B ,2025-08-05

[2]

一种芯片测试设备 [P].

谢登煌 .

中国专利 :CN119805172A ,2025-04-11

[3]

芯片测试方法及芯片测试设备 [P].

原东明 ;

李亮 ;

申华新 .

中国专利 :CN117590201A ,2024-02-23

[4]

一种芯片测试设备的测试机构 [P].

张治强 ;

杨师 ;

苏允康 .

中国专利 :CN223051462U ,2025-07-01

[5]

一种批量化芯片测试设备 [P].

刘超 ;

黄斌华 .

中国专利 :CN119916186A ,2025-05-02

[6]

一种光接收芯片测试设备 [P].

黄祥恩 ;

匡嘉乐 ;

韦文龙 ;

唐佛雨 ;

李乐宜 ;

廖云峰 .

中国专利 :CN220709223U ,2024-04-02

[7]

一种批量化芯片测试设备 [P].

刘超 ;

黄斌华 .

中国专利 :CN119916186B ,2025-06-20

[8]

一种芯片测试设备及芯片测试系统 [P].

吴永红 ;

黄建军 ;

赵山 ;

陈建丛 ;

孙钦华 .

中国专利 :CN222354016U ,2025-01-14

[9]

一种芯片测试设备及芯片测试方法 [P].

侯卫京 ;

曹兴 ;

林钦发 ;

曾睿 ;

黄余毅 .

中国专利 :CN114660436A ,2022-06-24

[10]

一种芯片测试方法及芯片测试设备 [P].

李文 ;

项月超 .

中国专利 :CN118258448A ,2024-06-28

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