共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
一种批量化芯片测试设备
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510403846.8
申请日：
2025-04-01
公开(公告)号：
CN119916186A
公开(公告)日：
2025-05-02
发明(设计)人：
刘超
黄斌华
申请人：
深圳市昂科技术有限公司
申请人地址：
518000 广东省深圳市南山区粤海街道麻岭社区高新中区麻雀岭工业区3层A1区
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
B08B11/02
B08B1/20
B08B1/40
代理机构：
深圳市励知致远知识产权代理有限公司 44795
代理人：
刘爽
法律状态：
授权
国省代码：
广东省
深圳市
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-06-20 | 授权 | 授权 |
| 2025-05-02 | 公开 | 公开 |
| 2025-05-20 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250401 |