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一种芯片批量化测试装置和方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202511324659.7
申请日：
2025-09-17
公开(公告)号：
CN120831561A
公开(公告)日：
2025-10-24
发明(设计)人：
王中克
杨越
陈川洋
叶玖林
申请人：
中国星网网络应用有限公司
申请人地址：
401121 重庆市渝北区黄山大道中段64号1幢39-1
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
代理机构：
成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214
代理人：
封浪
法律状态：
公开
国省代码：
重庆市
市辖区
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-10-24 | 公开 | 公开 |
| 2025-11-11 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250917 |