一种DDR芯片测试装置和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110565616.3

申请日：

2021-05-24

公开(公告)号：

CN113257333A

公开(公告)日：

2021-08-13

发明(设计)人：

邬刚陈永

申请人：

申请人地址：

310000 浙江省杭州市余杭区余杭街道文一西路1818-1号1幢103M室

IPC主分类号：

G11C2956

IPC分类号：

G11C2936 G11C2938

代理机构：

浙江杭知桥律师事务所 33256

代理人：

陈丽霞

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-08-31	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 29/56 申请日:20210524
2021-08-13	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片测试夹具和芯片测试装置 [P].

张婵娟 ;

王国峰 .

中国专利 :CN117330930A ,2024-01-02

[2]

一种芯片测试用探针和芯片测试装置 [P].

顾培东 ;

蒋卫兵 .

中国专利 :CN113009196A ,2021-06-22

[3]

芯片对比测试装置和方法 [P].

张广乐 ;

薛广营 ;

郭月俊 ;

季冬冬 .

中国专利 :CN117805580A ,2024-04-02

[4]

DDR芯片测试方法和装置 [P].

刘冲 ;

李振华 .

中国专利 :CN111063386A ,2020-04-24

[5]

芯片测试板、芯片测试装置和测试系统 [P].

王丽荣 ;

李华星 ;

胡晓辉 .

中国专利 :CN223552255U ,2025-11-14

[6]

芯片测试方法及芯片测试装置 [P].

孙文琪 ;

高伟 .

中国专利 :CN119003257A ,2024-11-22

[7]

一种芯片测试方法及其测试装置 [P].

李金钵 ;

郭艳飞 .

中国专利 :CN118091374B ,2024-07-09

[8]

一种芯片测试装置及测试方法 [P].

王稳稳 .

中国专利 :CN118571298A ,2024-08-30

[9]

一种芯片测试装置及其测试方法 [P].

刘红桥 ;

刘洋 ;

沈雨晴 .

中国专利 :CN120559439A ,2025-08-29

[10]

一种芯片测试装置和方法 [P].

陈贝 ;

满宏涛 .

中国专利 :CN115410639A ,2022-11-29

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